| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·引言 | 第12-13页 |
| ·数字电路测试系统的测试方式和测试过程 | 第13-14页 |
| ·国内外研究的技术现状和发展趋势 | 第14-16页 |
| ·本文的主要研究工作及结构安排 | 第16-19页 |
| 第二章 数字电路板测试系统总体设计 | 第19-28页 |
| ·测试系统的技术指标及功能要求 | 第19-21页 |
| ·系统总体方案设计 | 第21-24页 |
| ·系统软件方案设计 | 第24-25页 |
| ·虚拟仪器和 LabVIEW | 第24-25页 |
| ·上位机应用软件方案设计 | 第25页 |
| ·测试任务的主要流程 | 第25-26页 |
| ·测试系统软件设计过程中的技术难点 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 测试矢量生成技术研究 | 第28-42页 |
| ·测试矢量生成算法介绍 | 第28-30页 |
| ·故障模拟简介 | 第30页 |
| ·基于粒子群的测试矢量生成和测试点选取设计 | 第30-40页 |
| ·基于粒子群的测试矢量生成 | 第31-38页 |
| ·基于粒子群的测试点的选取 | 第38-40页 |
| ·粒子群算法的改进方案 | 第40页 |
| ·测试矢量生成的实现过程 | 第40-41页 |
| ·测试矢量生成算法的性能评价 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 测试矢量的加载 | 第42-62页 |
| ·通信方式 | 第42-44页 |
| ·通信过程 | 第44-50页 |
| ·引脚状态定义过程 | 第50-51页 |
| ·通信数据管理和程序优化 | 第51-57页 |
| ·基于 TXT 和字符串的数据存储变换方式 | 第51-53页 |
| ·基于 HWS 和字符串的数据存储变换方式 | 第53-54页 |
| ·基于 HWS 和数字数组的数据存储变换方式 | 第54-55页 |
| ·基于 HWS 和数字数组的数据存储变换方式的改进 | 第55-57页 |
| ·多功能波形分析控件 | 第57-58页 |
| ·界面及工程管理功能模块 | 第58-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 测试系统其它功能模块设计 | 第62-75页 |
| ·ARINC429 功能模块 | 第62-65页 |
| ·ARINC429 总线接口卡硬件设计 | 第62-63页 |
| ·ARINC429 总线接口卡软件设计 | 第63-64页 |
| ·软硬件调试 | 第64-65页 |
| ·总结 | 第65页 |
| ·1553B 功能模块 | 第65-67页 |
| ·422/485 串口模块 | 第67-69页 |
| ·离散 I/O 模块和 AD 模块 | 第69页 |
| ·JTAG 边界扫描模块 | 第69-70页 |
| ·测试系统自检模块 | 第70-71页 |
| ·测试系统调试 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第六章 结论与总结 | 第75-77页 |
| ·全文工作总结 | 第75页 |
| ·展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第81页 |