嵌入式SRAM的可测性设计研究

摘要	第1-6页
英文摘要	第6-7页
第一章 引言	第7-9页
第二章 嵌入式存储器测试概述	第9-17页
·存储器测试简介	第9页
·存储器电路模型	第9-11页
·功能模型	第9-11页
·存储单元	第11页
·存储器故障模型	第11-14页
·嵌入式存储器测试方法	第14-17页
·存储器直接存取测试	第14页
·嵌入式 CPU测试	第14-15页
·存储器内建自测试	第15页
·各种存储器测试方法比较	第15-17页
第三章 嵌入式 SRAM的内建自测试	第17-33页
·存储器 BIST技术简介	第17-19页
·March算法描述	第19-22页
·March算法的基本概念	第19-20页
·几种主要的March算法	第20-22页
·基于有限状态机(FSM)的可编程 MBIST	第22-33页
·可编程 MBIST概念	第22页
·基于 FSM可编程 MBIST的实现	第22-33页
第四章 嵌入式 SRAM开路故障的检测	第33-51页
·SRAM的开路缺陷及其功能故障	第33-36页
·PMOS开路缺陷的检测	第36-51页
·早期的PMOS开路缺陷检测方法	第36-37页
·PDWTM检测方法	第37-51页
第五章 结束语	第51-52页
参考文献	第52-55页
致谢	第55页