| 第一章 引言 | 第1-18页 |
| 1．1．研究的背景 | 第12-14页 |
| 1．2．目前的研究需求 | 第14页 |
| 1．3．研究内容及意义 | 第14-15页 |
| 1．4．内容概述 | 第15页 |
| 1．5．本章小结 | 第15页 |
| 参考文献 | 第15-18页 |
| 第二章 故障模拟理论概述 | 第18-32页 |
| 2．1．与故障模拟相关的基本概念 | 第18-21页 |
| 2．1．1 故障 | 第18-19页 |
| 2．1．2 故障模型 | 第19-20页 |
| 2．1．3 单固定故障模型 | 第20页 |
| 2．1．4 激励与响应 | 第20-21页 |
| 2．1．5 故障检测与故障诊断 | 第21页 |
| 2．2．故障模拟的基本原理 | 第21-22页 |
| 2．3．故障模拟的应用 | 第22-24页 |
| 2．3．1．评定测试集 | 第22-24页 |
| 2．3．2．生成测试集 | 第24页 |
| 2．3．3．产生故障字典 | 第24页 |
| 2．3．4．分析有故障存在时电路的特性 | 第24页 |
| 2．4．故障模拟理论的发展 | 第24-27页 |
| 2．4．1 串行故障模拟 | 第25页 |
| 2．4．2 并行故障模拟 | 第25-26页 |
| 2．4．3 推演故障模拟 | 第26-27页 |
| 2．4．4 并发故障模拟 | 第27页 |
| 2．5．故障模拟方法分析 | 第27-28页 |
| 2．6．本章小结 | 第28-29页 |
| 参考文献 | 第29-32页 |
| 第三章 设计PCB级数字电路实用故障模拟器涉及的问题 | 第32-38页 |
| 3．1．PCB级数字电路故障模拟方法的选取 | 第32-33页 |
| 3．2．PCB级数字电路模型的多样化 | 第33-35页 |
| 3．2．1 PCB级组合电路模型和时序电路模型的统一 | 第33-34页 |
| 3．2．2 PCB级数字电路组件的多样性 | 第34页 |
| 3．2．3 PCB级时序电路的复杂性 | 第34-35页 |
| 3．3．实用PCB级数字电路故障字典的特殊要求 | 第35页 |
| 3．4．PCB级数字电路故障模拟器与测试生成的有效统一 | 第35页 |
| 3．5．本章小结 | 第35-36页 |
| 参考文献 | 第36-38页 |
| 第四章 PCB级数字电路故障模拟的实用技术 | 第38-60页 |
| 4．1．PCB级数字电路测试数据自动生成系统(PATGTA) | 第38-50页 |
| 4．1．1 PATGTA系统功能简介 | 第38页 |
| 4．1．2 PATGTA系统模型 | 第38-39页 |
| 4．1．3 PATGTA系统总体结构 | 第39-40页 |
| 4．1．4 PATGTA系统各部分简介 | 第40-46页 |
| 4．1．5 PATGTA系统软件实现 | 第46-50页 |
| 4．2．PCB级数字电路故障模拟模块 | 第50-57页 |
| 4．2．1 PCB级数字电路实用故障模拟器的IPO | 第50页 |
| 4．2．2 故障并行的故障模拟方法的实现 | 第50-51页 |
| 4．2．3 故障模拟值表的应用 | 第51-52页 |
| 4．2．4 子程序模拟与三段多遍模拟的采用 | 第52-55页 |
| 4．2．5 故障模拟与测试生成的统一 | 第55-56页 |
| 4．2．6 故障字典的处理 | 第56页 |
| 4．2．7 对于特殊组件的处理 | 第56-57页 |
| 4．3．本章小结 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 第五章 含RAM的PCB级数字电路故障模拟实用化 | 第60-76页 |
| 5．1．对含RAM电路故障模拟总体指导方案 | 第60页 |
| 5．2．含RAM电路的故障模型的选取 | 第60-61页 |
| 5．2．1 对于一般组件的处理 | 第60页 |
| 5．2．2 对于RAM器件的处理 | 第60-61页 |
| 5．3．对RAM器件的故障模拟处理 | 第61-69页 |
| 5．3．1 故障模拟值表的应用 | 第61-62页 |
| 5．3．2 故障敏化 | 第62-67页 |
| 5．3．3 反向回推 | 第67-68页 |
| 5．3．4 故障模拟 | 第68-69页 |
| 5．4．含RAM电路的故障模拟的特殊性 | 第69-71页 |
| 5．4．1 含RAM电路的电路模型 | 第69-70页 |
| 5．4．2 含RAM电路的模拟故障精简问题 | 第70-71页 |
| 5．4．3 含RAM电路的多事件故障模拟 | 第71页 |
| 5．5．含RAM电路的故障模拟方法 | 第71-73页 |
| 5．5．1 含RAM电路故障模拟方法表述 | 第71-72页 |
| 5．5．2 程序实现含RAM电路故障模拟方法的几个重要关注点 | 第72-73页 |
| 5．5．3 本方法的虚拟RAM所需内存的估算 | 第73页 |
| 5．6．含RAM的PCB级数字电路模拟实例 | 第73-74页 |
| 5．7．本章小结 | 第74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 第六章 PCB级数字电路故障字典的研究 | 第76-86页 |
| 6．1．PATGTA系统输出文件TESTREPORT简介 | 第76-80页 |
| 6．1．1 电路参数 | 第76-77页 |
| 6．1．2 输入信息 | 第77页 |
| 6．1．3 输出信息 | 第77页 |
| 6．1．4 故障集 | 第77-78页 |
| 6．1．5 测试生成 | 第78-79页 |
| 6．1．6 故障仿真报告 | 第79-80页 |
| 6．2．故障字典文件 | 第80页 |
| 6．3．故障字典的使用 | 第80-81页 |
| 6．4．对多事件故障的处理 | 第81-83页 |
| 6．4．1 多事件故障的定义 | 第81页 |
| 6．4．2 多事件故障的影响 | 第81-82页 |
| 6．4．3 多事件故障的处理 | 第82-83页 |
| 6．5．本章小结 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 第七章 结论与展望 | 第86-88页 |
| 致谢 | 第88-90页 |
| 作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第90页 |
