| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 文献综述 | 第7-30页 |
| ·压敏电阻研究意义及应用前景 | 第7-10页 |
| ·压敏电阻研究状况及发展趋势 | 第10-14页 |
| ·压敏电阻理论基础 | 第14-21页 |
| ·电学性能 | 第14-15页 |
| ·压敏电阻性能表征 | 第15-17页 |
| ·非线性系数α | 第15-16页 |
| ·压敏电压V_(1mA) | 第16页 |
| ·漏电流I_L | 第16-17页 |
| ·相对介电常数ε_I | 第17页 |
| ·介电损耗tanδ | 第17页 |
| ·压敏电阻的微观结构与理论模型 | 第17-21页 |
| ·微观结构 | 第17-18页 |
| ·压敏电阻的理论模型 | 第18-21页 |
| ·TiO_2压敏电阻半导化途径 | 第21-28页 |
| ·非化学计量比 | 第21-24页 |
| ·掺杂 | 第24-28页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第28-30页 |
| 第2章 实验过程及测试方法 | 第30-34页 |
| ·实验方案 | 第30-33页 |
| ·实验配方设计 | 第30-31页 |
| ·制备工艺 | 第31页 |
| ·实验原料 | 第31-32页 |
| ·实验设备 | 第32-33页 |
| ·实验测试方法 | 第33-34页 |
| ·电性能的测试 | 第33页 |
| ·样品微观结构的测试方法 | 第33-34页 |
| 第3章 样品电学性能及晶界偏析研究 | 第34-59页 |
| ·不掺杂系列研究 | 第34-36页 |
| ·实验依据与目的 | 第34页 |
| ·烧结温度对样品性能的影响 | 第34-36页 |
| ·Nb_2O_5单掺杂系列研究 | 第36-39页 |
| ·实验配方的确定 | 第37页 |
| ·Nb_2O_5单掺杂对样品性能的影响 | 第37-39页 |
| ·Nb_2O_5和La_2O_3共掺杂系列研究 | 第39-42页 |
| ·实验配方的确定 | 第39-40页 |
| ·Nb_2O_5和La_2O_3共掺杂对样品性能的影响 | 第40-42页 |
| ·不掺杂、Nb_2O_5单掺杂及Nb_2O_5和La_2O_3共掺杂系列样品性能比较 | 第42页 |
| ·纳米TiO_2掺杂改性系列研究 | 第42-47页 |
| ·实验配方的确定 | 第43-44页 |
| ·纳米TiO_2对样品性能的影响 | 第44-45页 |
| ·烧结温度对样品性能的影响 | 第45-47页 |
| ·稀土掺杂改性系列研究 | 第47-50页 |
| ·实验配方的确定 | 第47-48页 |
| ·稀土CeO_2对样品性能的影响 | 第48-50页 |
| ·TiO_2晶界偏析探讨 | 第50-54页 |
| ·各个掺杂系列样品老化效应讨论 | 第54-56页 |
| ·烧成气氛对样品性能的影响 | 第56-57页 |
| ·TiO_2环形压敏电阻元件的试制 | 第57-59页 |
| 第4章 样品显微组织与微观结构研究 | 第59-65页 |
| ·各掺杂系列SEM和XRD研究 | 第59-62页 |
| ·各掺杂系列EPMA研究 | 第62-63页 |
| ·Nb_2O_5单掺杂系列XPS研究 | 第63-65页 |
| 第5章 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附录A | 第72-73页 |
| 附录B | 第73页 |