| 第一章 绪论 | 第1-28页 |
| ·快速发展的微电子技术 | 第19-20页 |
| ·SoC与IP | 第20-24页 |
| ·SoC概述 | 第20-21页 |
| ·IP和重用设计方法学 | 第21-23页 |
| ·工程学指导下的IP重用 | 第23-24页 |
| ·我国SoC-IP产业的现状 | 第24-25页 |
| ·课题来源及研究目的和意义 | 第25-26页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第26-28页 |
| 第二章 基于重用的集成电路工程学 | 第28-43页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·软件工程概述 | 第28-31页 |
| ·软件工程的基本内容 | 第29-30页 |
| ·集成电路设计呼唤工程思想 | 第30-31页 |
| ·基于重用的集成电路工程学 | 第31-41页 |
| ·基本概念 | 第31-32页 |
| ·集成电路工程过程模型 | 第32-37页 |
| ·基于重用的设计 | 第34-35页 |
| ·可重用IP的设计 | 第35-36页 |
| ·基础设施工程 | 第36-37页 |
| ·工程中的标准化 | 第37-41页 |
| ·IP标准化组织简介 | 第37-39页 |
| ·IP标准化策略 | 第39-41页 |
| ·重用经济学 | 第41页 |
| ·结束语 | 第41-43页 |
| 第三章 IP质量保证和质量评测标准草案 | 第43-67页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·IP质量的定义 | 第43-48页 |
| ·质量的定义 | 第43-44页 |
| ·质量的分类 | 第44页 |
| ·IP质量的定义 | 第44页 |
| ·IP质量模型 | 第44-48页 |
| ·设计质量模型 | 第45-47页 |
| ·缺陷放大模型 | 第47-48页 |
| ·IP质量保证 | 第48-51页 |
| ·质量标准体系 | 第48-49页 |
| ·质量保证活动 | 第49页 |
| ·设计评审 | 第49-51页 |
| ·IP质量评测标准草案 | 第51-60页 |
| ·质量评测的研究现状 | 第51-54页 |
| ·软件质量评测的研究现状 | 第51-52页 |
| ·IP质量评测的研究现状 | 第52-53页 |
| ·改进思路 | 第53-54页 |
| ·术语定义 | 第54-55页 |
| ·新的IP质量评测模型 | 第55-58页 |
| ·IP质量的评测 | 第58-59页 |
| ·测试 | 第58页 |
| ·测量和度量 | 第58-59页 |
| ·评估 | 第59页 |
| ·评测模型的使用 | 第59-60页 |
| ·测量数值与因素间映射函数的确定 | 第60页 |
| ·IP质量评估平台的构建 | 第60-66页 |
| ·IP质量评估流程 | 第61-63页 |
| ·IP质量评估平台框架和实现 | 第63-65页 |
| ·实验实例 | 第65-66页 |
| ·结束语 | 第66-67页 |
| 第四章 IP软核可重用性评测技术的研究 | 第67-90页 |
| ·引言 | 第67-68页 |
| ·IP可重用性评测基础 | 第68-72页 |
| ·可重用性的定义 | 第68页 |
| ·IP可重用设计的基本原则 | 第68-69页 |
| ·可重用性评测的分类法 | 第69-71页 |
| ·IP软核的黑盒度量 | 第71-72页 |
| ·IP软核可重用性的间接度量 | 第72-83页 |
| ·可重用性间接度量的相关研究 | 第72-73页 |
| ·研究路线和局限性 | 第73-74页 |
| ·体系结构复杂度度量 | 第74-76页 |
| ·底层调用级别度量 | 第76-77页 |
| ·McCabe环数复杂度度量 | 第77-79页 |
| ·源代码描述复杂度度量 | 第79-83页 |
| ·基本度量 | 第80页 |
| ·Halstead度量在Verilog编码中的应用 | 第80-81页 |
| ·实例研究 | 第81-82页 |
| ·描述复杂度对电路性能的预测 | 第82-83页 |
| ·小结 | 第83页 |
| ·IP软核可重用性评估 | 第83-88页 |
| ·影响IP可重用性的关键因素 | 第83-85页 |
| ·研究现状 | 第85-86页 |
| ·改进的IP软核可重用性评估方法 | 第86-88页 |
| ·规则评估的改进 | 第86-87页 |
| ·使用一一对照法改进权值设定 | 第87页 |
| ·模糊理论在可重用性评估中的应用 | 第87-88页 |
| ·结束语 | 第88-90页 |
| 第五章 外设片上总线及其接口的设计 | 第90-113页 |
| ·引言 | 第90-96页 |
| ·层次化片上总线体系结构 | 第90-91页 |
| ·片上总线接口标准化 | 第91-92页 |
| ·PVCI协议简介 | 第92-96页 |
| ·外设总线桥电路的顶层设计 | 第96-99页 |
| ·外设总线桥的总体考虑 | 第96-97页 |
| ·总线桥的模块划分 | 第97-98页 |
| ·数据对齐 | 第98-99页 |
| ·外设总线桥内部时序设计 | 第99-102页 |
| ·状态机的状态定义 | 第99-100页 |
| ·正常数据传输的状态转移设计 | 第100页 |
| ·传输过程中的出错处理 | 第100-101页 |
| ·典型操作的时序设计 | 第101-102页 |
| ·外设总线桥第三层设计的研究 | 第102-107页 |
| ·参数化系统设计 | 第102-104页 |
| ·地址译码模块及其参数化设计 | 第104-105页 |
| ·数据通道的设计 | 第105-106页 |
| ·参数化外设总线桥的可重用性度量 | 第106-107页 |
| ·基于PVCI标准的封装模型及其合成算法 | 第107-112页 |
| ·相关工作 | 第107-108页 |
| ·基于PVCI标准的硬件封装模型 | 第108-109页 |
| ·硬件封装的建模 | 第108-109页 |
| ·封装模型的描述 | 第109页 |
| ·封装状态机的合成算法 | 第109-111页 |
| ·状态转移函数的确立 | 第110-111页 |
| ·输出函数的确立 | 第111页 |
| ·其他问题 | 第111页 |
| ·实例研究及结论 | 第111-112页 |
| ·结束语 | 第112-113页 |
| 第六章 可重用IP功能验证平台的研究 | 第113-130页 |
| ·引言 | 第113-114页 |
| ·功能验证重用方法学 | 第114-120页 |
| ·基于事务的验证方法学 | 第114-115页 |
| ·可重用功能验证平台体系结构 | 第115-119页 |
| ·平台的体系结构 | 第115-116页 |
| ·事务验证模型 | 第116-117页 |
| ·激励 | 第117-119页 |
| ·验证平台的重用 | 第119-120页 |
| ·总线功能模型设计的研究 | 第120-125页 |
| ·基于任务的BFM设计 | 第121-122页 |
| ·基于状态机的BFM设计 | 第122-124页 |
| ·实验及性能分析 | 第124-125页 |
| ·总线监视器设计的研究 | 第125-129页 |
| ·Monitor采样模块的设计 | 第126-127页 |
| ·信号转换模块的设计 | 第127-129页 |
| ·Monitor的可重用性设计规则 | 第129页 |
| ·结束语 | 第129-130页 |
| 第七章 总结与展望 | 第130-132页 |
| ·总结 | 第130-131页 |
| ·展望 | 第131-132页 |
| 参考文献 | 第132-138页 |
| 攻读博士期间发表的论文 | 第138页 |