| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第6-8页 |
| ·被动毫米波成像技术的发展及其应用 | 第8-12页 |
| ·论文的主要工作及内容安排 | 第12-14页 |
| 2 被动毫米波成像技术基础 | 第14-30页 |
| ·被动毫米波成像的理论基础--辐射测量理论 | 第14-24页 |
| ·电磁波辐射的数学描述 | 第14-15页 |
| ·热辐射定律--普朗克定律 | 第15-16页 |
| ·毫米波辐射测量原理 | 第16-20页 |
| ·毫米波辐射测量特性 | 第20-24页 |
| ·被动毫米波成像系统的工作原理 | 第24-30页 |
| ·典型的被动毫米波成像的基本工作过程 | 第24页 |
| ·毫米波辐射计结构与原理 | 第24-30页 |
| 3 二维单波束圆锥扫描的成像系统分析 | 第30-50页 |
| ·引言 | 第30页 |
| ·成像系统结构 | 第30-31页 |
| ·成像系统分析 | 第31-44页 |
| ·天线 | 第31-34页 |
| ·扫描几何分析 | 第34-37页 |
| ·系统工作性能指标及其相互关系 | 第37-41页 |
| ·数据采样频率的确定 | 第41-44页 |
| ·步进电机构成的扫描机构 | 第44页 |
| ·成像系统的图像采集／控制接口设计 | 第44-50页 |
| ·功能介绍 | 第44-45页 |
| ·并行接口及A／D转换芯片介绍 | 第45-46页 |
| ·图像数据采集电路方案 | 第46-47页 |
| ·天线扫描控制电路设计 | 第47-50页 |
| 4 系统图像恢复与重建 | 第50-66页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·天线辐射方向图对亮温分布的平滑作用 | 第50-53页 |
| ·成像系统的退化变质模型 | 第53-54页 |
| ·成像系统的图像恢复与重建 | 第54-55页 |
| ·二维圆锥扫描成像系统的变质机理 | 第55-57页 |
| ·变质机理 | 第55-56页 |
| ·变质因素分析 | 第56-57页 |
| ·模糊POCS(FUZZY POCS)超分辨率处理 | 第57-66页 |
| ·引言 | 第57-58页 |
| ·系统空间变化的点扩展函数(Space-Variant PSF) | 第58-59页 |
| ·POCS图像恢复算法 | 第59-60页 |
| ·模糊集合理论 | 第60-61页 |
| ·模糊POCS法(Fuzzy POCS) | 第61-63页 |
| ·仿真试验 | 第63-66页 |
| 5 毫米波焦平面阵列成像探讨 | 第66-80页 |
| ·引言 | 第66页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像的工作原理 | 第66-75页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像多波束形成及空间采样分析 | 第66-70页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像的接收机工作原理 | 第70-75页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像的系统性能分析 | 第75-80页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像的信噪比分析 | 第76-78页 |
| ·毫米波焦平面阵列成像的距离方程 | 第78-80页 |
| 结束语 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |