首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--计算技术、计算机技术论文--电子数字计算机(不连续作用电子计算机)论文--运算器和控制器(CPU)论文

高性能128位浮点乘加部件优化设计技术研究

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 绪论第11-20页
   ·课题研究背景第11-13页
   ·IEEE-754 2008 相关标准第13-14页
   ·国内外相关研究第14-18页
     ·传统的浮点乘加结构第14-15页
     ·低延迟浮点乘加结构第15-16页
     ·128 位浮点乘加结构第16-18页
   ·课题主要工作第18-19页
   ·论文结构第19-20页
第二章 128 位全流水浮点乘加部件的设计与优化第20-36页
   ·128 位浮点乘加部件体系结构第20-24页
     ·总体结构第20-21页
     ·流水线结构分析第21-22页
     ·流水线结构优化第22-24页
   ·符号位和指数位运算第24-26页
     ·符号位通路第24-26页
     ·指数通路第26页
   ·对阶移位第26-30页
     ·对阶移位算法概述第26-28页
     ·优化设计第28-30页
   ·分块乘法第30-33页
     ·分块乘法原理第30-31页
     ·乘法模块部分积生成及树形压缩第31-33页
   ·实验结果与比较第33-35页
   ·本章小结第35-36页
第三章 三输入前导零预测算法设计与优化第36-46页
   ·算法概述第36-39页
     ·二输入LZA 算法第36-37页
     ·三输入LZA 算法推导第37-39页
   ·三输入前导0 体系结构第39-44页
     ·结构分析第40-41页
     ·超宽位编码树优化设计第41-43页
     ·流水线设计第43-44页
   ·实验结果分析第44页
   ·本章小结第44-46页
第四章 基于双通路加法器的设计与优化第46-53页
   ·单通路浮点乘加部件体系结构分析第46-47页
   ·双通路加法器原理第47-48页
   ·双通路乘加融合结构优化设计第48-52页
     ·close 通路结构设计第49页
     ·far 通路结构设计第49-50页
     ·舍入处理第50-52页
   ·结果评估第52页
   ·本章小结第52-53页
第五章 系统测试与验证第53-65页
   ·测试流程第53-54页
   ·系统级测试模型第54-58页
     ·参考模型第54-55页
     ·特殊数据测试第55-57页
     ·全系统测试第57-58页
   ·测试向量生成第58-63页
     ·测试用例生成基本原理第58-59页
     ·分段测试用例生成第59-60页
     ·基于异常分类的测试用例生成第60-63页
   ·实验结果分析第63-64页
   ·本章小结第64-65页
第六章 结束语第65-67页
   ·课题工作总结第65页
   ·工作展望第65-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-72页
作者在读期间取得的学术成果第72页

论文共72页,点击 下载论文
上一篇:嵌入式多核处理器JTAG调试的设计与实现
下一篇:FT-C55 LP外部存储器接口的设计与实现