| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| ·三维面形测量 | 第11-15页 |
| ·被动三维测量 | 第11-13页 |
| ·主动三维测量 | 第13-15页 |
| ·相位测量轮廓术 | 第15-18页 |
| ·相位测量轮廓术关键技术 | 第16-18页 |
| ·相位测量轮廓术的应用 | 第18页 |
| ·当前相位测量轮廓术存在的主要问题 | 第18-19页 |
| ·本课题的主要工作 | 第19-21页 |
| 第2章 基于相位测量轮廓术的三维面形测量系统设计 | 第21-29页 |
| ·光栅投影三维面形测量的基本原理及系统组成 | 第21-24页 |
| ·光栅投影三维面形测量的基本原理 | 第21-23页 |
| ·光栅图像投影系统和采集系统 | 第23-24页 |
| ·相位的求取过程 | 第24-27页 |
| ·求取折叠相位 | 第24-27页 |
| ·折叠相位的展开 | 第27页 |
| ·展开相位与物体高度的映射关系 | 第27-29页 |
| 第3章 相位展开算法在PMP面形测量中的应用研究 | 第29-47页 |
| ·相位展开算法原理 | 第29-31页 |
| ·截断相位与相位展开 | 第29-30页 |
| ·路经积分相位展开方法 | 第30-31页 |
| ·残差 | 第31-32页 |
| ·残差定理 | 第32-35页 |
| ·质量图 | 第35-40页 |
| ·常用质量图 | 第35-37页 |
| ·背景梯度-相位导数偏差质量图 | 第37-40页 |
| ·基于路径积分的相位展开 | 第40-46页 |
| ·经典展开算法 | 第40-43页 |
| ·基于背景梯度-相位导数偏差质量图的质量导引相位展开算法 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 三维面形测量系统标定方法的研究 | 第47-62页 |
| ·系统标定 | 第47-55页 |
| ·系统结构分析 | 第47-50页 |
| ·Z 坐标标定 | 第50-51页 |
| ·X 和Y 坐标标定 | 第51-55页 |
| ·图像节点的亚像素定位技术 | 第55-58页 |
| ·亚像素定位基本原理 | 第55-56页 |
| ·亚像素定位算法 | 第56-58页 |
| ·标定流程 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第5章 相位测量轮廓术测量系统精度及系统误差分析 | 第62-70页 |
| ·测量系统误差分析 | 第62-64页 |
| ·光栅自身参数对测量的影响试验 | 第64-69页 |
| ·参数p 的影响 | 第65-66页 |
| ·参数L 的影响 | 第66-67页 |
| ·参数d 的影响 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 总结 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74页 |