致谢 | 第1-6页 |
中文摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-12页 |
1 引言 | 第12-16页 |
·课题背景 | 第12-14页 |
·国内外研究现状 | 第14-15页 |
·论文目的和意义 | 第15页 |
·论文结构 | 第15-16页 |
2 电磁兼容天线与开阔实验场理论研究 | 第16-31页 |
·电磁兼容天线及天线系数 | 第16-20页 |
·电磁兼容 | 第16页 |
·电磁兼容天线 | 第16-19页 |
·天线系数 | 第19-20页 |
·天线系数的校准测量 | 第20-27页 |
·场地插入损耗(SIL) | 第20-21页 |
·三天线法原理 | 第21-23页 |
·标准天线法原理 | 第23-24页 |
·标准场地法原理 | 第24-27页 |
·开阔实验场(OATS) | 第27-29页 |
·地平面的尺寸 | 第27-28页 |
·地平面的粗糙度要求 | 第28-29页 |
·地平面材质要求 | 第29页 |
·接地要求 | 第29页 |
·半电波暗室(Semi-anechoic Chamber) | 第29-31页 |
3 开阔场宽度不足对测试影响研究 | 第31-40页 |
·引言 | 第31页 |
·理论分析 | 第31-34页 |
·开阔场中的费涅尔区 | 第31-33页 |
·场地边沿终止的影响分析 | 第33-34页 |
·仿真分析 | 第34-39页 |
·电磁兼容中的数值计算方法 | 第34页 |
·仿真步骤 | 第34-36页 |
·数据分析 | 第36-39页 |
·结论 | 第39-40页 |
4 天线测量的时域分析研究 | 第40-55页 |
·时域分析原理研究 | 第40-44页 |
·时域分析一般过程 | 第40-41页 |
·频域到时域变换时频率采样间隔问题 | 第41-42页 |
·频率截断的影响及窗函数的选择 | 第42-44页 |
·时域方法分析开阔场反射干扰 | 第44-52页 |
·试验开阔场地环境 | 第44-46页 |
·实测设置 | 第46-47页 |
·实测步骤 | 第47-52页 |
·半电波暗室的反射分析 | 第52-54页 |
·总结 | 第54-55页 |
5 用时域门对天线系数测量进行修正 | 第55-81页 |
·时域门原理分析 | 第55页 |
·用标准场地法实际测量天线系数 | 第55-60页 |
·场地布置 | 第56-58页 |
·测量过程 | 第58-60页 |
·加入时域门对天线系数进行修正测量 | 第60-62页 |
·测量中的不确定度分析 | 第62-65页 |
·测量设备引起的不确定度 | 第63页 |
·电缆失配引起的不确定度 | 第63-64页 |
·场地和系统引起的不确定度 | 第64-65页 |
·合成不确定度 | 第65页 |
·测量数据的处理与对比分析 | 第65-75页 |
·开阔实验场测量结果 | 第66-70页 |
·半电波暗室测量结果 | 第70-75页 |
·时域门修正效果分析 | 第75页 |
·天线系数测量中时域门功能的 Matlab实现 | 第75-79页 |
·时域门技术在天线系数测量中的适用范围分析 | 第79-81页 |
6 结论 | 第81-83页 |
参考文献 | 第83-85页 |
附录A | 第85-118页 |
附录B | 第118-162页 |
学位论文数据集 | 第162页 |