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场地因素对天线系数测量影响的修正研究

致谢第1-6页
中文摘要第6-7页
ABSTRACT第7-12页
1 引言第12-16页
   ·课题背景第12-14页
   ·国内外研究现状第14-15页
   ·论文目的和意义第15页
   ·论文结构第15-16页
2 电磁兼容天线与开阔实验场理论研究第16-31页
   ·电磁兼容天线及天线系数第16-20页
     ·电磁兼容第16页
     ·电磁兼容天线第16-19页
     ·天线系数第19-20页
   ·天线系数的校准测量第20-27页
     ·场地插入损耗(SIL)第20-21页
     ·三天线法原理第21-23页
     ·标准天线法原理第23-24页
     ·标准场地法原理第24-27页
   ·开阔实验场(OATS)第27-29页
     ·地平面的尺寸第27-28页
     ·地平面的粗糙度要求第28-29页
     ·地平面材质要求第29页
     ·接地要求第29页
   ·半电波暗室(Semi-anechoic Chamber)第29-31页
3 开阔场宽度不足对测试影响研究第31-40页
   ·引言第31页
   ·理论分析第31-34页
     ·开阔场中的费涅尔区第31-33页
     ·场地边沿终止的影响分析第33-34页
   ·仿真分析第34-39页
     ·电磁兼容中的数值计算方法第34页
     ·仿真步骤第34-36页
     ·数据分析第36-39页
   ·结论第39-40页
4 天线测量的时域分析研究第40-55页
   ·时域分析原理研究第40-44页
     ·时域分析一般过程第40-41页
     ·频域到时域变换时频率采样间隔问题第41-42页
     ·频率截断的影响及窗函数的选择第42-44页
   ·时域方法分析开阔场反射干扰第44-52页
     ·试验开阔场地环境第44-46页
     ·实测设置第46-47页
     ·实测步骤第47-52页
   ·半电波暗室的反射分析第52-54页
   ·总结第54-55页
5 用时域门对天线系数测量进行修正第55-81页
   ·时域门原理分析第55页
   ·用标准场地法实际测量天线系数第55-60页
     ·场地布置第56-58页
     ·测量过程第58-60页
   ·加入时域门对天线系数进行修正测量第60-62页
   ·测量中的不确定度分析第62-65页
     ·测量设备引起的不确定度第63页
     ·电缆失配引起的不确定度第63-64页
     ·场地和系统引起的不确定度第64-65页
     ·合成不确定度第65页
   ·测量数据的处理与对比分析第65-75页
     ·开阔实验场测量结果第66-70页
     ·半电波暗室测量结果第70-75页
     ·时域门修正效果分析第75页
   ·天线系数测量中时域门功能的 Matlab实现第75-79页
   ·时域门技术在天线系数测量中的适用范围分析第79-81页
6 结论第81-83页
参考文献第83-85页
附录A第85-118页
附录B第118-162页
学位论文数据集第162页

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