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平板膜微滤半导体废水的实验研究

摘要第1-5页
Abstract第5-10页
引言第10-12页
1 文献综述第12-31页
   ·膜微滤技术第12-20页
     ·膜微滤技术简介第12-14页
     ·微滤膜组件及装置第14-16页
     ·微滤膜分离过程中操作参数的影响第16-17页
     ·微滤膜的污染及控制第17-18页
     ·微滤膜的发展和应用第18-20页
   ·膜微滤机理第20-25页
   ·预涂动态膜技术第25-29页
     ·动态膜技术第25-27页
     ·预涂动态膜的发展和应用第27-29页
   ·本章小结第29-31页
2 实验介绍第31-40页
   ·实验装置及流程第31-34页
     ·实验装置及流程图第31-32页
     ·主要实验仪器第32-33页
     ·实验材料第33-34页
   ·实验内容第34-39页
     ·实验数据的确定第34-37页
     ·实验步骤第37-39页
   ·待滤物料及膜分离性能的表征第39页
     ·待滤物料介绍第39页
     ·膜分离性能的表征第39页
   ·本章小结第39-40页
3 膜滤阻力分析第40-48页
   ·膜污染阻力的计算方法第40-41页
   ·污染层阻力准数关联式的推导第41-42页
   ·各项膜阻的测定第42-45页
     ·新膜固有阻力的测定第42-43页
     ·温度对膜阻的影响第43页
     ·微滤情况下的渗透流速和压力的回归曲线第43-45页
   ·不同情况下阻力分析第45-47页
     ·错流微滤和预先涂膜错流微滤第45-46页
     ·预先涂膜条件下死端微滤和错流微滤第46-47页
   ·本章小结第47-48页
4 实验结果与讨论第48-70页
   ·新膜纯水实验第48-49页
     ·操作压力对膜纯水通量的影响第48页
     ·曝气对膜两侧压力差的影响第48-49页
   ·平板膜微滤不同料液实验第49-52页
     ·不同料液下TMP随时间的变化情况第49-50页
     ·不同料液下出水浊度随TMP的变化情况第50-51页
     ·不同料液下pH值对TMP的变化情况第51页
     ·膜形态分析第51-52页
   ·直接与预先涂膜两种错流微滤实验第52-62页
   ·错流与死端的预先涂膜微滤实验第62-68页
   ·本章小结第68-70页
5 恒速微滤过程堵塞模型模拟第70-84页
   ·微滤模型介绍第70-72页
   ·恒速微滤过程的堵塞模型的推导第72-76页
     ·阻塞模型的机理第72-73页
     ·完全堵塞模型第73-74页
     ·标准堵塞模型第74页
     ·中间堵塞模型第74-75页
     ·滤饼层模型-Ruth方程第75-76页
   ·恒速微滤过程预涂膜形成的条件和类型第76-78页
   ·错流微滤模型计算与实验结果比较第78-83页
   ·本章小结第83-84页
结论第84-85页
参考文献第85-90页
附录A A InoLab Level 3多功能水质分析仪性能参数第90-91页
附录B 浊度计的使用说明第91-93页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第93-94页
致谢第94-95页

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