| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·研究背景 | 第11-19页 |
| ·光子集成与光子晶体 | 第11-13页 |
| ·平板光子晶体波导及波导模式耦合 | 第13-19页 |
| ·光子晶体波导模式耦合研究的关键问题分析 | 第19-22页 |
| ·光子晶体波导模式耦合方式的多样性 | 第19-20页 |
| ·光子晶体单波导中模式耦合的调控机制 | 第20-21页 |
| ·光子晶体的制备、测试以及工艺误差影响分析 | 第21-22页 |
| ·论文工作的主要内容和创新点 | 第22-24页 |
| 第2章 光子晶体波导的仿真、制备以及测试 | 第24-43页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·光子晶体波导的仿真设计 | 第24-30页 |
| ·平面波展开法 | 第25-28页 |
| ·时域有限差分法 | 第28-29页 |
| ·二维有效折射率法 | 第29-30页 |
| ·光子晶体波导的制备和测试 | 第30-41页 |
| ·光子晶体波导的工艺制备 | 第31-34页 |
| ·硅和二氧化硅ICP 干法刻蚀技术的研究 | 第34-39页 |
| ·光子晶体波导特性的测试 | 第39-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 第3章 光子晶体波导的同向模式耦合 | 第43-58页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·W1 波导耦合器的制作与测试 | 第43-46页 |
| ·光子晶体耦合器的结构优化设计 | 第46-51页 |
| ·短耦合长度和大带宽的设计 | 第46-49页 |
| ·低插入损耗的设计 | 第49-51页 |
| ·工艺误差对耦合器插入损耗的影响 | 第51-57页 |
| ·光子晶体工艺误差仿真平台的建立 | 第51-53页 |
| ·工艺误差对耦合器插入损耗的影响 | 第53-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第4章 光子晶体波导的反向模式耦合 | 第58-69页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·光子晶体波导反向模式耦合在流体折射率传感上的应用 | 第58-63页 |
| ·光子晶体生物传感器的研究现状 | 第58-60页 |
| ·基于光子晶体波导反向模式耦合的流体折射率传感 | 第60-63页 |
| ·光子晶体波导反向模式耦合在零色散慢光上的应用 | 第63-68页 |
| ·光子晶体波导慢光的研究现状 | 第63-65页 |
| ·基于光子晶体波导反向模式耦合的零色散慢光 | 第65-68页 |
| ·小结 | 第68-69页 |
| 第5章 单一光子晶体波导中的模式耦合 | 第69-90页 |
| ·引言 | 第69页 |
| ·普通光子晶体单波导中的模式耦合 | 第69-71页 |
| ·单波导中引入非对称性进行模式耦合的调控 | 第71-76页 |
| ·单波导中引入非对称性进行模式耦合调控的理论研究 | 第71-73页 |
| ·单波导中引入非对称性进行模式耦合调控的实验验证 | 第73-75页 |
| ·基于非对称单波导的光开关 | 第75-76页 |
| ·单波导中引入非对称性和长周期性进行模式耦合调控的研究 | 第76-79页 |
| ·W1 波导奇偶模耦合引起的损耗机制 | 第79-89页 |
| ·W1 单波导损耗机制的研究现状 | 第79-81页 |
| ·奇偶模耦合损耗机制的理论研究 | 第81-84页 |
| ·奇偶模耦合损耗机制的实验验证 | 第84-85页 |
| ·增大单偶模区带宽的理论研究 | 第85-89页 |
| ·小结 | 第89-90页 |
| 结束语 | 第90-92页 |
| 参考文献 | 第92-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第97-99页 |