| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-12页 |
| 参考文献 | 第11-12页 |
| 第二章 理论基础 | 第12-27页 |
| ·纳米晶软磁材料各向异性理论 | 第12-14页 |
| ·随机各向异性模型 | 第12-14页 |
| ·软磁材料的动态磁化机制 | 第14-20页 |
| ·磁滞回线及相关特性 | 第14-15页 |
| ·磁畴和畴壁移动 | 第15-16页 |
| ·复数磁导率 | 第16-17页 |
| ·软磁材料的磁损耗机制 | 第17-20页 |
| ·涡流损耗 | 第17页 |
| ·磁滞损耗 | 第17-18页 |
| ·剩余损耗 | 第18-20页 |
| ·稀土-3d过渡族金属间化合物 | 第20-26页 |
| ·CaCu_5型晶体结构 | 第20-21页 |
| ·Th_2Ni_(17)/Th_2Zn_(17)型晶体结构 | 第21-23页 |
| ·R_2Fe_(14)B型晶体结构 | 第23-24页 |
| ·稀土(RE)-过渡族(TM)化合物的交换相互作用 | 第24-26页 |
| 参考文献 | 第26-27页 |
| 第三章 样品的制备与测试 | 第27-41页 |
| ·样品的制备 | 第27-33页 |
| ·磁控溅射的基本原理 | 第27-31页 |
| ·溅射工艺参数的选择 | 第31-32页 |
| ·样品的制备及处理过程 | 第32-33页 |
| ·样品的测量 | 第33-40页 |
| ·微观结构与成分测量 | 第34-35页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第34页 |
| ·高分辨透射电镜(HRTEM)和电子衍射(ED) | 第34-35页 |
| ·磁性测量 | 第35-37页 |
| ·振动样品磁强计(VSM) | 第35-36页 |
| ·磁力显微镜(MFM) | 第36-37页 |
| ·成分的测量 | 第37页 |
| ·厚度的测量 | 第37页 |
| ·高频磁导率的测量 | 第37-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第四章 厚度对Ta/Nd_2(FeCo)_(17)/Ta薄膜结构与磁性的影响 | 第41-47页 |
| ·FeCoNd薄膜的微结构 | 第41-42页 |
| ·厚度对FeCoNd薄膜磁性影响 | 第42-45页 |
| ·FeCoNd薄膜的截面结构 | 第45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-47页 |
| 第五章 热处理对Ta/Nd_2(FeCo)_(17)/Ta薄膜结构与磁性的影响 | 第47-57页 |
| ·微结构 | 第47-49页 |
| ·退火温度对磁性的影响 | 第49-51页 |
| ·高频特性 | 第51-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第六章 结论 | 第57-58页 |
| 附录 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
