APD雪崩二极管测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·APD测试系统的发展趋势 | 第10-11页 |
| ·APD探测器的发展 | 第10页 |
| ·APD测试设备的现状 | 第10-11页 |
| ·课题的研究内容和本文的组织结构 | 第11-13页 |
| 第2章 APD测试系统设计需求分析 | 第13-21页 |
| ·APD测试系统设计需求 | 第13-14页 |
| ·雪崩二极管测试系统参数分析 | 第14-19页 |
| ·雪崩二极管击穿发生的条件 | 第14-16页 |
| ·量子效率 | 第16页 |
| ·响应度 | 第16-17页 |
| ·响应速度 | 第17页 |
| ·暗电流 | 第17-18页 |
| ·雪崩倍增因子 | 第18-19页 |
| ·APD测试系统参数分析 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 APD测试系统方案设计 | 第21-28页 |
| ·雪崩二极管测试系统 | 第21-22页 |
| ·APD测试系统方案方案设计与分析 | 第22-26页 |
| ·高压电流监控方案 | 第22-23页 |
| ·精密电流检测方案 | 第23-24页 |
| ·MAX4007方案 | 第24-25页 |
| ·ADL5317设计方案 | 第25-26页 |
| ·ADL5317性能分析 | 第26-27页 |
| ·电流监控电路 | 第26页 |
| ·偏置电压控制电路 | 第26页 |
| ·GARD电路 | 第26-27页 |
| ·VCLH电路 | 第27页 |
| ·过流和过温保护电路 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 系统硬件电路的设计 | 第28-38页 |
| ·ADL5317监控电路 | 第28-30页 |
| ·升压电路 | 第30-33页 |
| ·升压DC/DC转换器原理 | 第31页 |
| ·采用MAX5026构成高压偏置电路 | 第31-33页 |
| ·电流检测 | 第33-36页 |
| ·运放芯片的选型 | 第33-34页 |
| ·I-V变换电路 | 第34-36页 |
| ·激光器驱动电路 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第5章 系统调试与测试 | 第38-48页 |
| ·MCU控制 | 第38-41页 |
| ·AD采样模块调试 | 第39-40页 |
| ·DA采样模块调试 | 第40-41页 |
| ·系统硬件调试 | 第41-47页 |
| ·升压电路调试 | 第41-42页 |
| ·微弱电流的检测 | 第42-43页 |
| ·Vset管脚电压调试 | 第43-45页 |
| ·LD激光器驱动电路调试 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第6章 总结与展望 | 第48-50页 |
| ·总结 | 第48页 |
| ·工作展望 | 第48-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 附件 | 第54页 |
