基于CircularScan结构的低费用测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| ·课题研究背景 | 第12-13页 |
| ·基于扫描设计的研究概况 | 第13-15页 |
| ·测试应用时间缩短技术 | 第14页 |
| ·测试数据压缩技术 | 第14-15页 |
| ·测试面临的挑战 | 第15-16页 |
| ·本课题研究意义 | 第16-17页 |
| ·课题研究的内容与组织结构 | 第17-18页 |
| ·课题研究的内容 | 第17页 |
| ·本文组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 数字电路测试中的基本概念和扫描设计 | 第18-35页 |
| ·基本概念 | 第18-19页 |
| ·基本的电路测试技术和方法 | 第19-23页 |
| ·功能测试和结构测试 | 第19-20页 |
| ·故障模型 | 第20页 |
| ·可测试性分析 | 第20-21页 |
| ·自动测试向量生成 | 第21-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-23页 |
| ·可测试性设计技术 | 第23-27页 |
| ·可测试性设计的目标 | 第23页 |
| ·可测试性设计技术分类 | 第23-27页 |
| ·测试数据压缩方法 | 第27-30页 |
| ·测试压缩基本原理 | 第28页 |
| ·测试激励压缩 | 第28-29页 |
| ·测试响应压缩 | 第29-30页 |
| ·低费用低功耗可测试性设计研究现状 | 第30-33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 第3章 一种改进的CircularScan结构 | 第35-40页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·CircularScan结构 | 第35-38页 |
| ·改进的CircularScan结构 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第4章 仿真实验与分析 | 第40-50页 |
| ·故障模拟软件HOPE原理介绍 | 第40-43页 |
| ·基本概念 | 第40-41页 |
| ·减少并行模拟的故障数 | 第41-42页 |
| ·故障注入策略 | 第42页 |
| ·故障分组策略 | 第42-43页 |
| ·HOPE软件的相关操作介绍 | 第43-44页 |
| ·实验结果及分析 | 第44-49页 |
| ·实验流程 | 第44-45页 |
| ·测试应用时间 | 第45-48页 |
| ·测试数据量 | 第48-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间的主要研究成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
