| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 内存取证方面 | 第13-14页 |
| 1.2.2 二进制代码逆向工程方面 | 第14-15页 |
| 1.2.3 动态切片方面 | 第15页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第15-16页 |
| 1.4 本文结构 | 第16-17页 |
| 第2章 内存获取和分析方法 | 第17-26页 |
| 2.1 计算机虚拟内存 | 第17-22页 |
| 2.2 内存采集方法 | 第22-24页 |
| 2.2.1 概述 | 第22页 |
| 2.2.2 软件工具 | 第22-23页 |
| 2.2.3 硬件工具 | 第23-24页 |
| 2.3 内存分析工具 | 第24-25页 |
| 2.3.1 基本工具 | 第24页 |
| 2.3.2 Memdump和KnTools | 第24-25页 |
| 2.3.3 FATKit | 第25页 |
| 2.3.4 Volatility Framwork | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 内存取证研究技术 | 第26-37页 |
| 3.1 动态切片技术 | 第26-31页 |
| 3.2 BCR | 第31-36页 |
| 3.2.1 预处理工作 | 第32-34页 |
| 3.2.2 系统运行概述 | 第34页 |
| 3.2.3 原型识别 | 第34-35页 |
| 3.2.4 函数体提取 | 第35-36页 |
| 3.2.5 C代码生成 | 第36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 基于二进制重用的内存取证系统 | 第37-51页 |
| 4.1 取证原理简介 | 第37-38页 |
| 4.2 动态切片模块 | 第38-39页 |
| 4.3 二进制重用模块 | 第39-44页 |
| 4.4 内存扫描模块 | 第44-45页 |
| 4.5 系统实现 | 第45-50页 |
| 4.5.1 Pin工作原理 | 第46-47页 |
| 4.5.2 动态切片 | 第47-48页 |
| 4.5.3 二进制重用 | 第48-49页 |
| 4.5.4 扫描内存 | 第49-50页 |
| 4.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 内存取证实验与评估 | 第51-58页 |
| 5.1 实验环境 | 第51页 |
| 5.2 二进制重用模块实验评估 | 第51-54页 |
| 5.3 内存扫描模块实验分析 | 第54-57页 |
| 5.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附录B 攻读硕士学位期间所参加的科研项目 | 第66页 |