| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-27页 |
| 1.1 选题背景 | 第10-18页 |
| 1.1.1 环境现状及能源危机 | 第10-11页 |
| 1.1.2 氢能的利用 | 第11-18页 |
| 1.2 Pt、Cu以及C元素的简述 | 第18-21页 |
| 1.2.1 元素Pt的简述 | 第18页 |
| 1.2.2 元素Cu的简述 | 第18-20页 |
| 1.2.3 元素C的简述 | 第20-21页 |
| 1.3 薄膜催化剂催化性能的影响因素 | 第21-23页 |
| 1.4 Pt-M/C薄膜催化剂的制备及后处理技术 | 第23-24页 |
| 1.4.1 Pt基合金催化剂Pt-M/C的制备技术 | 第23-24页 |
| 1.4.2 催化电极Pt-M/C的后处理技术 | 第24页 |
| 1.5 选题的国内外研究动态及现状 | 第24-25页 |
| 1.6 本文研究工作内容 | 第25-27页 |
| 1.6.1 本文研究目的及意义 | 第25页 |
| 1.6.2 研究内容及技术路线 | 第25页 |
| 1.6.3 研究特色 | 第25-27页 |
| 第二章 PtCu/C合金型薄膜催化电极的制备、后处理及表征 | 第27-44页 |
| 2.1 实验材料、试剂及仪器 | 第27-28页 |
| 2.2 PtCu/C薄膜催化电极的制备及后处理 | 第28-36页 |
| 2.2.1 离子束溅射(IBS)装置的工作原理 | 第28-30页 |
| 2.2.2 实验样品的制备流程 | 第30-34页 |
| 2.2.3 实验样品的编号 | 第34-36页 |
| 2.3 PtCu/C薄膜电化学性能的测试方法 | 第36-40页 |
| 2.3.1 电化学测试步骤 | 第36-37页 |
| 2.3.2 循环伏安法(CV)测试 | 第37-39页 |
| 2.3.3 线性扫描伏安法(LSV)测试 | 第39-40页 |
| 2.4 PtCu/C薄膜结构的测试方法 | 第40-44页 |
| 2.4.1 XRD | 第40-41页 |
| 2.4.2 ICP-AES | 第41页 |
| 2.4.3 FE-HRTEM&STEM&EDS | 第41-42页 |
| 2.4.4 XPS | 第42-44页 |
| 第三章 后处理修饰PtCu/C薄膜的电化学性能分析 | 第44-57页 |
| 3.1 YYa系列样品的电化学性能分析和XPS表征 | 第44-50页 |
| 3.1.1 YYa系列样品腐蚀恒电位的探讨 | 第44-45页 |
| 3.1.2 YYa系列样品的电化学性能分析 | 第45-48页 |
| 3.1.3 YYa系列样品的XPS表征 | 第48-50页 |
| 3.2 YYb系列的电化学性能分析 | 第50-53页 |
| 3.3 YYc系列的电化学性能分析 | 第53-55页 |
| 3.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 第四章 超声波循环伏安腐蚀PtCu/C表面颗粒结构的表征及探讨 | 第57-62页 |
| 4.1 样品YYa-0、YYa-1-0和YYc-1-2.5表面颗粒形貌的探讨 | 第57-59页 |
| 4.2 YYc-1-2.5表面颗粒结构的表征 | 第59-60页 |
| 4.3 YYc-1-2.5的TEM表征 | 第60-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 PtCu@Pt/C核壳结构颗粒表面压缩应变的电子结构探究 | 第62-67页 |
| 5.1 样品YYc-1-2.5和YYa-1-0表面元素的半定量分析 | 第62-64页 |
| 5.2 样品YYc-1-2.5的拟合分析 | 第64-66页 |
| 5.3 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 结论与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 结论 | 第67-68页 |
| 6.2 本文创新点 | 第68页 |
| 6.3 展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 附录 (研究生期间发表成果) | 第76页 |
