| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 引言 | 第19-39页 |
| 1.1 研究背景及选题意义 | 第19-22页 |
| 1.1.1 亚熔盐非常规介质及其理化性质简介 | 第19-20页 |
| 1.1.2 亚熔盐非常规介质中两性金属矿物氧化机理 | 第20-22页 |
| 1.2 活性氧研究方法概述 | 第22-26页 |
| 1.2.1 化学反应法 | 第24-26页 |
| 1.2.2 电化学光谱耦合法 | 第26页 |
| 1.3 亚熔盐非常规介质活性氧生成机理及赋存规律研究 | 第26-36页 |
| 1.3.1 亚熔盐介质中活性氧生成机理及赋存规律研究现状 | 第26-28页 |
| 1.3.2 量子力学模拟研究亚熔盐介质中活性氧生成机理 | 第28-31页 |
| 1.3.3 和频光谱与分子模拟研究活性氧赋存规律 | 第31-36页 |
| 1.4 本文研究内容及立题意义 | 第36-39页 |
| 第2章 亚熔盐非常规介质活性氧生成机理及最优生成条件研究 | 第39-55页 |
| 2.1 引言 | 第39-40页 |
| 2.2 量子力学模拟方法 | 第40页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第40-53页 |
| 2.3.1 亚熔盐介质中活性氧的生成机理研究 | 第40-46页 |
| 2.3.2 亚熔盐介质中活性氧最优生成条件研究 | 第46-53页 |
| 2.4 本章小节 | 第53-55页 |
| 第3章 活性氧特征检测峰研究 | 第55-87页 |
| 3.1 引言 | 第55-57页 |
| 3.2 实验方法 | 第57-62页 |
| 3.2.1 样品及制备 | 第57-59页 |
| 3.2.2 和频光谱 | 第59-60页 |
| 3.2.3 分子动力学模拟 | 第60-62页 |
| 3.2.4 量子力学模拟 | 第62页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第62-85页 |
| 3.3.1 活性氧特征检测峰的和频光谱研究 | 第62-79页 |
| 3.3.1.1 水/石英界面和频光谱研究 | 第62-63页 |
| 3.3.1.2 氢氧化钾溶液/石英界面和频光谱研究 | 第63-65页 |
| 3.3.1.3 界面电负性对氢氧化钾溶液/石英界面和频光谱的影响 | 第65-69页 |
| 3.3.1.4 不同过氧化氢添加量条件下氢氧化钾/石英界面和频光谱研究 | 第69-71页 |
| 3.3.1.5 HO_2~-离子特征检测峰的确定 | 第71-73页 |
| 3.3.1.6 不同极化条件下氢氧化钾和过氧化氢溶液/石英界面和频光谱研究 | 第73-79页 |
| 3.3.2 活性氧特征检测振动峰的化学计算 | 第79-85页 |
| 3.3.2.1 界面微观结构的分子动力学模拟 | 第79-81页 |
| 3.3.2.2 界面分子结构的量子力学模拟 | 第81-85页 |
| 3.4 本章小结 | 第85-87页 |
| 第4章 氢氧化钾介质中活性氧组分的赋存规律及量化测定 | 第87-101页 |
| 4.1 引言 | 第87-88页 |
| 4.2 实验方法 | 第88页 |
| 4.2.1 样品及制备 | 第88页 |
| 4.2.2 和频光谱 | 第88页 |
| 4.2.3 分子动力学模拟 | 第88页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第88-98页 |
| 4.3.1 界面电负性对氢氧化钾溶液/石英界面和频光谱的影响 | 第88-92页 |
| 4.3.2 氢氧化钾介质中活性氧赋存规律及量化测定 | 第92-98页 |
| 4.3.2.1 不同过氧化氢添加量条件下6M氢氧化钾/石英界面活性氧赋存规律 | 第92-93页 |
| 4.3.2.2 不同通气条件下6M氢氧化钾/石英界面活性氧赋存规律 | 第93-94页 |
| 4.3.2.3 氢氧化钾介质中活性氧定量测定 | 第94-98页 |
| 4.4 本章小结 | 第98-101页 |
| 第5章 氢氧化钠介质中活性氧赋存规律及量化测定 | 第101-125页 |
| 5.1 引言 | 第101-102页 |
| 5.2 实验方法 | 第102-104页 |
| 5.2.1 样品及制备 | 第102-103页 |
| 5.2.2 和频光谱 | 第103页 |
| 5.2.3 分子动力学模拟 | 第103页 |
| 5.2.4 量子力学模拟 | 第103-104页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第104-123页 |
| 5.3.1 氢氧化钠介质中活性氧特征检测峰确定 | 第104-115页 |
| 5.3.1.1 氢氧化钠介质中活性氧特征检测峰的和频光谱研究 | 第104-112页 |
| 5.3.1.2 氢氧化钠介质中活性氧特征检测峰的分子模拟研究 | 第112-115页 |
| 5.3.2 界面电负性对氢氧化钠溶液/石英界面和频光谱的影响 | 第115-118页 |
| 5.3.3 氢氧化钠介质中活性氧赋存规律及量化测定 | 第118-123页 |
| 5.3.3.1 不同过氧化氢添加量条件下4M氢氧化钠/石英界面活性氧赋存规律 | 第118-119页 |
| 5.3.3.2 不同通气条件下4M氢氧化钠/石英界面活性氧赋存规律 | 第119页 |
| 5.3.3.3 氢氧化钠介质中活性氧的量化测定 | 第119-123页 |
| 5.4 本章小结 | 第123-125页 |
| 第6章 氢氧化钠和氢氧化钾介质中氧气扩散系数研究 | 第125-143页 |
| 6.1 引言 | 第125-128页 |
| 6.2 分子动力学模拟方法 | 第128页 |
| 6.3 结果与讨论 | 第128-142页 |
| 6.3.1 氢氧化钠和氢氧化钾介质中分子结构研究 | 第128-137页 |
| 6.3.1.1 水分子间的径向分布函数 | 第129-131页 |
| 6.3.1.2 氧气分子与其它粒子间的径向分布函数 | 第131-137页 |
| 6.3.2 氧气扩散系数的计算 | 第137-142页 |
| 6.4 本章小节 | 第142-143页 |
| 第7章 结论与展望 | 第143-147页 |
| 7.1 结论 | 第143-144页 |
| 7.2 创新点 | 第144页 |
| 7.3 展望 | 第144-147页 |
| 符号表 | 第147-151页 |
| 参考文献 | 第151-169页 |
| 致谢 | 第169-171页 |
| 个人简历及攻读学位期间发表的学术论文与科研成果 | 第171-172页 |
