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亚熔盐介质中活性氧生成机理及赋存规律非线性光谱及分子模拟基础研究

摘要第5-7页
Abstract第7-9页
第1章 引言第19-39页
    1.1 研究背景及选题意义第19-22页
        1.1.1 亚熔盐非常规介质及其理化性质简介第19-20页
        1.1.2 亚熔盐非常规介质中两性金属矿物氧化机理第20-22页
    1.2 活性氧研究方法概述第22-26页
        1.2.1 化学反应法第24-26页
        1.2.2 电化学光谱耦合法第26页
    1.3 亚熔盐非常规介质活性氧生成机理及赋存规律研究第26-36页
        1.3.1 亚熔盐介质中活性氧生成机理及赋存规律研究现状第26-28页
        1.3.2 量子力学模拟研究亚熔盐介质中活性氧生成机理第28-31页
        1.3.3 和频光谱与分子模拟研究活性氧赋存规律第31-36页
    1.4 本文研究内容及立题意义第36-39页
第2章 亚熔盐非常规介质活性氧生成机理及最优生成条件研究第39-55页
    2.1 引言第39-40页
    2.2 量子力学模拟方法第40页
    2.3 结果与讨论第40-53页
        2.3.1 亚熔盐介质中活性氧的生成机理研究第40-46页
        2.3.2 亚熔盐介质中活性氧最优生成条件研究第46-53页
    2.4 本章小节第53-55页
第3章 活性氧特征检测峰研究第55-87页
    3.1 引言第55-57页
    3.2 实验方法第57-62页
        3.2.1 样品及制备第57-59页
        3.2.2 和频光谱第59-60页
        3.2.3 分子动力学模拟第60-62页
        3.2.4 量子力学模拟第62页
    3.3 结果与讨论第62-85页
        3.3.1 活性氧特征检测峰的和频光谱研究第62-79页
            3.3.1.1 水/石英界面和频光谱研究第62-63页
            3.3.1.2 氢氧化钾溶液/石英界面和频光谱研究第63-65页
            3.3.1.3 界面电负性对氢氧化钾溶液/石英界面和频光谱的影响第65-69页
            3.3.1.4 不同过氧化氢添加量条件下氢氧化钾/石英界面和频光谱研究第69-71页
            3.3.1.5 HO_2~-离子特征检测峰的确定第71-73页
            3.3.1.6 不同极化条件下氢氧化钾和过氧化氢溶液/石英界面和频光谱研究第73-79页
        3.3.2 活性氧特征检测振动峰的化学计算第79-85页
            3.3.2.1 界面微观结构的分子动力学模拟第79-81页
            3.3.2.2 界面分子结构的量子力学模拟第81-85页
    3.4 本章小结第85-87页
第4章 氢氧化钾介质中活性氧组分的赋存规律及量化测定第87-101页
    4.1 引言第87-88页
    4.2 实验方法第88页
        4.2.1 样品及制备第88页
        4.2.2 和频光谱第88页
        4.2.3 分子动力学模拟第88页
    4.3 结果与讨论第88-98页
        4.3.1 界面电负性对氢氧化钾溶液/石英界面和频光谱的影响第88-92页
        4.3.2 氢氧化钾介质中活性氧赋存规律及量化测定第92-98页
            4.3.2.1 不同过氧化氢添加量条件下6M氢氧化钾/石英界面活性氧赋存规律第92-93页
            4.3.2.2 不同通气条件下6M氢氧化钾/石英界面活性氧赋存规律第93-94页
            4.3.2.3 氢氧化钾介质中活性氧定量测定第94-98页
    4.4 本章小结第98-101页
第5章 氢氧化钠介质中活性氧赋存规律及量化测定第101-125页
    5.1 引言第101-102页
    5.2 实验方法第102-104页
        5.2.1 样品及制备第102-103页
        5.2.2 和频光谱第103页
        5.2.3 分子动力学模拟第103页
        5.2.4 量子力学模拟第103-104页
    5.3 结果与讨论第104-123页
        5.3.1 氢氧化钠介质中活性氧特征检测峰确定第104-115页
            5.3.1.1 氢氧化钠介质中活性氧特征检测峰的和频光谱研究第104-112页
            5.3.1.2 氢氧化钠介质中活性氧特征检测峰的分子模拟研究第112-115页
        5.3.2 界面电负性对氢氧化钠溶液/石英界面和频光谱的影响第115-118页
        5.3.3 氢氧化钠介质中活性氧赋存规律及量化测定第118-123页
            5.3.3.1 不同过氧化氢添加量条件下4M氢氧化钠/石英界面活性氧赋存规律第118-119页
            5.3.3.2 不同通气条件下4M氢氧化钠/石英界面活性氧赋存规律第119页
            5.3.3.3 氢氧化钠介质中活性氧的量化测定第119-123页
    5.4 本章小结第123-125页
第6章 氢氧化钠和氢氧化钾介质中氧气扩散系数研究第125-143页
    6.1 引言第125-128页
    6.2 分子动力学模拟方法第128页
    6.3 结果与讨论第128-142页
        6.3.1 氢氧化钠和氢氧化钾介质中分子结构研究第128-137页
            6.3.1.1 水分子间的径向分布函数第129-131页
            6.3.1.2 氧气分子与其它粒子间的径向分布函数第131-137页
        6.3.2 氧气扩散系数的计算第137-142页
    6.4 本章小节第142-143页
第7章 结论与展望第143-147页
    7.1 结论第143-144页
    7.2 创新点第144页
    7.3 展望第144-147页
符号表第147-151页
参考文献第151-169页
致谢第169-171页
个人简历及攻读学位期间发表的学术论文与科研成果第171-172页

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