摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第16-18页 |
1.1 研究背景与意义 | 第16页 |
1.2 国内外研究现状 | 第16-17页 |
1.3 论文内容及结构安排 | 第17-18页 |
第二章 功放模型和基带数字预失真技术介绍 | 第18-34页 |
2.1 射频功率放大器的失真特性 | 第18-20页 |
2.1.1 射频功率放大器的非线性失真特性 | 第18-19页 |
2.1.2 射频功率放大器的记忆失真特性 | 第19-20页 |
2.2 射频功率放大器常见的行为模型 | 第20-22页 |
2.2.1 射频功率放大器的Volterra级数模型 | 第20-21页 |
2.2.2 射频功率放大器的记忆多项式模型 | 第21页 |
2.2.3 射频功率放大器的Hammerstein模型介绍 | 第21-22页 |
2.2.4 射频功率放大器的Wiener模型介绍 | 第22页 |
2.3 数字预失真关键技术介绍 | 第22-33页 |
2.3.1 数字预失真基本原理 | 第22-24页 |
2.3.2 数字预失真的学习结构 | 第24-25页 |
2.3.3 数字预失真算法 | 第25-33页 |
2.4 本章小结 | 第33-34页 |
第三章 基带数字预失真需求分析与方案设计 | 第34-48页 |
3.1 基带数字预失真系统的评价指标 | 第34-35页 |
3.1.1 归一化均方误差NMSE | 第34页 |
3.1.2 邻道泄漏比ACLR | 第34页 |
3.1.3 误差矢量幅度EVM | 第34-35页 |
3.2 基带数字预失真方案的指标确定 | 第35-36页 |
3.2.1 中频的指标需求 | 第35页 |
3.2.2 整体的指标需求 | 第35-36页 |
3.3 预失真器参数及预失真算法的确定 | 第36-39页 |
3.3.1 射频功率放大器的行为模型 | 第36页 |
3.3.2 确定预失真器的参数 | 第36-37页 |
3.3.3 确定基带数字预失真算法 | 第37-39页 |
3.3.4 确定LMS算法的步长因子 | 第39页 |
3.4 软核的基本介绍 | 第39-42页 |
3.4.1 SOPC、DSP简介和设计方法的确定 | 第39-40页 |
3.4.2 软核的基本介绍 | 第40-41页 |
3.4.3 软核联合FPGA设计的开发流程 | 第41-42页 |
3.5 查找表技术原理及参数的确定 | 第42-44页 |
3.5.1 查找表技术代替记忆多项式的原理 | 第42-43页 |
3.5.2 查找表参数的确定 | 第43-44页 |
3.6 实现基带数字预失技术的总体设计方案 | 第44-47页 |
3.6.1 基带数字预失真技术的总体设计方案 | 第44-45页 |
3.6.2 FPGA部分总体设计方案 | 第45-46页 |
3.6.3 软核部分总体设计方案 | 第46-47页 |
3.7 本章小结 | 第47-48页 |
第四章 基带数字预失真技术的具体实现 | 第48-75页 |
4.1 基带数字预失真技术总体设计方案 | 第48-49页 |
4.2 实现基带数字预失真技术总体设计方案的FPGA部分 | 第49-64页 |
4.2.1 时钟生成模块 | 第49页 |
4.2.2 信号源产生模块 | 第49-50页 |
4.2.3 幅度增益模块 | 第50-51页 |
4.2.4 预失真器模块 | 第51-56页 |
4.2.5 数字上采样、下采样模块 | 第56-58页 |
4.2.6 正交调制、正交解调模块 | 第58-61页 |
4.2.7 数据采集模块 | 第61-62页 |
4.2.8 软核接口模块 | 第62-64页 |
4.3 实现基带数字预失真技术总体设计方案的软核部分 | 第64-69页 |
4.3.1 基带数字预失真技术总体设计方案的软核实现框图 | 第64-65页 |
4.3.2 软核工作流程 | 第65-66页 |
4.3.3 发送数据采集指令模块 | 第66-67页 |
4.3.4 取数模块 | 第67页 |
4.3.5 对齐模块 | 第67-68页 |
4.3.6 最小均方误差算法模块 | 第68-69页 |
4.3.7 制表送表模块 | 第69页 |
4.4 MicroBlaze系统的基本配置 | 第69-74页 |
4.4.1 MicroBlaze的内存配置 | 第69-70页 |
4.4.2 MicroBlaze的外设配置 | 第70-71页 |
4.4.3 MicroBlaze的处理器配置 | 第71-72页 |
4.4.4 MicroBlaze中断的配置 | 第72-73页 |
4.4.5 MicroBlaze链接文件的配置 | 第73-74页 |
4.5 本章小结 | 第74-75页 |
第五章 测试与分析 | 第75-89页 |
5.1 测试环境与平台介绍 | 第75-76页 |
5.2 测试与分析 | 第76-88页 |
5.2.1 预失真算法模块测试与分析 | 第77-78页 |
5.2.2 预失真器模块测试与分析 | 第78-79页 |
5.2.3 基带数字预失真技术的全链路测试与分析 | 第79-86页 |
5.2.4 LMS算法和LS算法改善效果对比 | 第86-88页 |
5.3 本章小结 | 第88-89页 |
第六章 总结与展望 | 第89-90页 |
6.1 全文总结 | 第89页 |
6.2 下一步工作建议 | 第89-90页 |
致谢 | 第90-91页 |
参考文献 | 第91-92页 |