摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第12-14页 |
1.1 引言 | 第12页 |
1.2 课题背景和意义: | 第12-14页 |
第二章 液晶显示技术介绍 | 第14-27页 |
2.1 薄膜晶体管液晶显示器工作原理 | 第14-17页 |
2.1.1 显示原理 | 第14-15页 |
2.1.2 显示模式 | 第15-17页 |
2.1.3 常见结构 | 第17页 |
2.2 彩色滤光片(Color Filter)介绍 | 第17-18页 |
2.3 液晶介绍 | 第18-22页 |
2.3.1 液晶的种类 | 第19-20页 |
2.3.2 液晶的物理特性 | 第20-21页 |
2.3.2.1 介电异方性(Dielectric anisotropy,Δ ε ) | 第20页 |
2.3.2.2 双折射率(Birefringence,Δ n) | 第20-21页 |
2.3.3 液晶的光电特性 | 第21-22页 |
2.4 液晶显示器成盒工艺介绍 | 第22-26页 |
2.4.1 TFT-LCD制造工艺 | 第22-24页 |
2.4.1.1 TFT,CF制造工艺 | 第22-23页 |
2.4.1.2 Cell,Module制造工艺 | 第23-24页 |
2.4.2 ODF工艺介绍 | 第24-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 液晶盒厚控制理论 | 第27-42页 |
3.1 液晶器件盒厚影响因子模型 | 第27-29页 |
3.1.1 液晶量不足时的模型 | 第28页 |
3.1.2 显示器处于正常工作区间的模型 | 第28-29页 |
3.1.3 液晶量过多的模型 | 第29页 |
3.1.4 盒厚模型小结 | 第29页 |
3.2 间隙子的影响研究 | 第29-33页 |
3.2.1 间隙子的原始高度 | 第30-31页 |
3.2.2 间隙子的形变系数和回复系数 | 第31-33页 |
3.3 液晶的影响作用 | 第33-35页 |
3.4 实验验证 | 第35-41页 |
3.4.1 盒厚测量原理 | 第35-36页 |
3.4.2 理论计算 | 第36-38页 |
3.4.3 实际测量值 | 第38-40页 |
3.4.4 公式验证 | 第40-41页 |
3.5 本章小结 | 第41-42页 |
第四章 盒厚模型在液晶工艺的应用 | 第42-54页 |
4.1 工艺流程中液晶量的决定 | 第42-44页 |
4.2 使用环境对显示器的影响 | 第44-48页 |
4.3 液晶显示器主要不良的理论解释 | 第48-53页 |
4.3.1 重力Mura | 第48-50页 |
4.3.2 指压Mura | 第50-53页 |
4.4 本章小结 | 第53-54页 |
第五章 盒厚对液晶显示器件光电特性的影响 | 第54-58页 |
5.1 盒厚对显示效果的影响 | 第54-57页 |
5.1.1 盒厚对穿透率的影响 | 第54-55页 |
5.1.2 盒厚对响应速度的影响 | 第55页 |
5.1.3 盒厚对对比度的影响 | 第55-56页 |
5.1.4 盒厚对视角的影响 | 第56-57页 |
5.2 本章小结 | 第57-58页 |
第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
6.1 总结 | 第58-59页 |
6.2 研究展望 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-62页 |
攻读硕士期间发表的学术论文 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-65页 |