| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 基于全波方法的孔缝耦合问题研究 | 第12-13页 |
| 1.2.2 基于电磁拓扑的孔缝耦合问题研究 | 第13-15页 |
| 1.3 本文的主要工作及结构安排 | 第15-16页 |
| 第二章 开缝腔体电磁耦合问题建模 | 第16-31页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 薄壁开缝腔体 | 第16-25页 |
| 2.2.1 基本原理 | 第16-23页 |
| 2.2.2 数值算例 | 第23-25页 |
| 2.3 厚壁开缝腔体 | 第25-30页 |
| 2.3.1 多个等效磁流计算腔内耦合场 | 第25-29页 |
| 2.3.2 数值算例 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 多缝腔体电磁耦合问题的迭代修正 | 第31-41页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 薄壁多开缝腔体 | 第31-37页 |
| 3.2.1 腔内耦合场的迭代修正 | 第31-34页 |
| 3.2.2 数值算例 | 第34-37页 |
| 3.3 厚壁多开缝腔体 | 第37-40页 |
| 3.3.1 多个等效磁流的迭代修正 | 第37-39页 |
| 3.3.2 数值算例 | 第39-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 后门耦合问题的电磁拓扑分析 | 第41-58页 |
| 4.1 引言 | 第41页 |
| 4.2 开缝腔体内电路敏感性分析 | 第41-47页 |
| 4.2.1 开缝腔体内场线耦合问题的拓扑分析 | 第41-43页 |
| 4.2.2 基于BLT方程的终端响应计算 | 第43-45页 |
| 4.2.3 数值算例 | 第45-47页 |
| 4.3 带有贯通线缆的开缝腔体内电路敏感性分析 | 第47-57页 |
| 4.3.1 带有贯通线缆的开缝腔体内场线耦合问题的拓扑分析 | 第47-49页 |
| 4.3.2 线缆表面激励场计算 | 第49-50页 |
| 4.3.3 基于BLT方程的场线耦合计算 | 第50-53页 |
| 4.3.4 数值算例 | 第53-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 5.1 总结 | 第58页 |
| 5.2 展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第65页 |