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基于WO3的复合半导体制备及可见光催化性能研究

摘要第3-5页
abstract第5-7页
第一章 绪论第12-26页
    1.1 前言第12-13页
    1.2 WO_3概述第13-17页
        1.2.1 WO_3晶体结构第13-14页
        1.2.2 WO_3的性质及应用第14-17页
    1.3 半导体光催化技术第17-24页
        1.3.1 半导体光催化原理第17-19页
        1.3.2 半导体光催化性能的影响因素第19-22页
        1.3.3 半导体光催化改性技术第22-24页
    1.4 选题依据、研究意义和主要内容第24-26页
        1.4.1 本文的选题依据和研究意义第24-25页
        1.4.2 本文主要内容第25-26页
第二章 实验材料及表征方法第26-34页
    2.1 实验方法及基本方案第26-27页
        2.1.1 WO_3纳米材料的制备方法第26页
        2.1.2 光催化降解实验第26-27页
    2.2 试验原料及仪器设备第27-29页
        2.2.1 主要实验试剂第27-28页
        2.2.2 主要实验仪器第28-29页
    2.3 结构与性能表征方法第29-32页
    2.4 本章小结第32-34页
第三章 光催化剂WO_3的合成及性能测试第34-42页
    3.1 前言第34页
    3.2 实验方法及过程第34-35页
    3.3 结果与讨论第35-40页
        3.3.1 SEM分析第35-36页
        3.3.2 XRD分析第36-37页
        3.3.3 DRS分析第37-38页
        3.3.4 光催化性能分析第38-40页
    3.4 本章小结第40-42页
第四章 WO_3/MoS_2复合半导体的制备及光催化性能第42-58页
    4.1 前言第42-43页
    4.2 实验方法及过程第43页
    4.3 样品表征及结果讨论第43-47页
        4.3.1 SEM分析第43-44页
        4.3.2 XRD和Raman分析第44-45页
        4.3.3 样品的比表面分析第45-46页
        4.3.4 DRS分析第46-47页
    4.4 光催化性能分析第47-53页
        4.4.1 MoS_2的负载量对WO_3/MoS_2光催化的影响第47-49页
        4.4.2 溶液pH值对WO_3/MoS_2光催化的影响第49-51页
        4.4.3 不同催化剂光催化性能对比及动力学曲线第51-52页
        4.4.4 复合半导体WO_3/MoS_2的光催化稳定性第52-53页
    4.5 电化学性能测试第53-55页
    4.6 本章小结第55-58页
第五章 Z型体系WO_3/MoS_2-rGO的制备及光催化性能研究第58-72页
    5.1 前言第58页
    5.2 实验方法及过程第58-60页
    5.3 样品表征及结果讨论第60-63页
        5.3.1 SEM分析第60页
        5.3.2 XRD和Raman分析第60-61页
        5.3.3 XPS谱分析第61-62页
        5.3.4 DRS和VBXPS分析第62-63页
    5.4 光催化性能分析第63-68页
        5.4.1 MoS_2-rGO负载量对WO_3/MoS_2-rGO光催化的影响第63-64页
        5.4.2 溶液pH值对WO_3/MoS_2-rGO光催化的影响第64-65页
        5.4.3 不同催化剂浓度对WO_3/MoS_2-rGO光催化的影响第65-66页
        5.4.4 不同催化剂的光催化活性对比及动力学曲线第66-67页
        5.4.5 复合半导体WO_3/MoS_2-rGO的光催化稳定性第67-68页
    5.5 WO_3/MoS_2-rGO光催化机理分析第68-71页
    5.6 本章小结第71-72页
第六章 总结与展望第72-76页
    6.1 全文总结第72-73页
    6.2 展望第73-76页
参考文献第76-84页
致谢第84-86页
攻读硕士期间发表的论文及获得的成果第86页

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