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几类单晶材料中磁电输运性质研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第9-21页
    1.1 本文所研究的电磁输运现象第10-11页
        1.1.1 巨大的磁电阻效应第10页
        1.1.2 磁场和温度诱导下的相变第10-11页
    1.2 研究的单晶材料第11-18页
        1.2.1 Cu_2TIX_2(X=Se, Te)第11-13页
        1.2.2 ZrSiS第13-14页
        1.2.3 HfTe_5第14-16页
        1.2.4 MoTe_2第16-18页
    1.3 本论文的出发点和研究内容第18-19页
    参考文献第19-21页
第二章 载流子模型的理论分析第21-27页
    2.1 引言第21页
    2.2 单载流子模型第21-22页
    2.3 双载流子模型第22-24页
        2.3.1 电子、空穴迁移率相近时第22-23页
        2.3.2 电子、空穴浓度相近第23-24页
    2.4 数据处理第24-25页
    2.5 本章小结第25-26页
    参考文献第26-27页
第三章 几个单晶材料的磁电性质研究第27-44页
    3.1 引言第27页
    3.2 Cu_2TlX_2:能带结构与载流子关系第27-30页
    3.3 ZrSiS:双载流子共存引发的巨大磁阻第30-36页
    3.4 HfTe_5:缺陷对载流子的影响第36-39页
    3.5 MoTe_2:载流子模型与SdH震荡第39-41页
    3.6 本章小结第41-42页
    参考文献第42-44页
第四章 总结与展望第44-45页
    4.1 总结第44页
    4.2 展望第44-45页
附录第45-47页
    附录一: 双载流子模型拟合磁阻和霍尔电阻mathmatica程序第45页
    附录二: 快速傅里叶变换程序matlab程序第45-47页
攻读硕士学位期间已发表的论文第47-48页
致谢第48-49页

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