干涉法测量膜厚方法及干涉图处理技术研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-11页 |
·课题的研究目的及意义 | 第9页 |
·本文的主要研究内容 | 第9-11页 |
2 主要的薄膜厚度测量方法 | 第11-14页 |
·光谱法 | 第11页 |
·椭圆偏振法 | 第11-12页 |
·干涉法 | 第12页 |
·本章小结 | 第12-14页 |
3 干涉法测量薄膜厚度的原理及测试过程 | 第14-22页 |
·干涉法测量薄膜厚度的原理 | 第14-15页 |
·干涉法测量薄膜厚度的测试过程 | 第15-21页 |
·干涉仪 | 第15页 |
·干涉图图像采集系统 | 第15-20页 |
·干涉图处理过程 | 第20-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
4. 干涉法测量膜厚的关键技术及算法 | 第22-52页 |
·干涉图的预处理 | 第22-34页 |
·消除噪声 | 第22-26页 |
·边缘提取 | 第26-32页 |
·区域延拓 | 第32-34页 |
·滤波器的设计与选取 | 第34-38页 |
·通用滤波器 | 第35-37页 |
·滤波器中心频率的确定 | 第37-38页 |
·相位解包 | 第38-51页 |
·种子算法 | 第39-43页 |
·质量跟踪导向算法 | 第43-48页 |
·基于DCT的最小二乘算法 | 第48-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
5 实验数据采集及分析 | 第52-61页 |
·薄膜样片的制备 | 第52页 |
·干涉图的图像采集以及图像处理结果 | 第52-60页 |
·迈克尔逊干涉仪的测试处理结果分析 | 第52-57页 |
·泰曼格林干涉仪的测试处理结果分析 | 第57-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
6 结论 | 第61-63页 |
·结论 | 第61页 |
·下一步工作展望 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-69页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第69-70页 |
致谢 | 第70-72页 |