| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 图片目录 | 第10-15页 |
| 表格目录 | 第15-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第16-18页 |
| 1.2 本论文的主要内容和贡献 | 第18-19页 |
| 1.3 本论文的组织结构 | 第19-20页 |
| 参考文献 | 第20-22页 |
| 第二章 数模转换器的结构与误差分析 | 第22-68页 |
| 2.1 数模转换器的结构 | 第23-32页 |
| 2.1.1 电阻型数模转换器 | 第24-28页 |
| 2.1.2 电容型数模转换器 | 第28页 |
| 2.1.3 电流舵型数模转换器 | 第28-32页 |
| 2.2 数模转换器的静态失配误差 | 第32-37页 |
| 2.2.1 电流源失配误差 | 第32-35页 |
| 2.2.2 输出电阻调制 | 第35-37页 |
| 2.3 数模转换器的动态失配误差 | 第37-54页 |
| 2.3.1 单元相关延时误差 | 第37-42页 |
| 2.3.2 输出相关延时误差 | 第42-47页 |
| 2.3.3 时钟抖动 | 第47-49页 |
| 2.3.4 开关的非对称性、信号馈通和电荷注入 | 第49-52页 |
| 2.3.5 输出阻抗调制 | 第52-54页 |
| 2.4 纳米CMOS工艺下数模转换器的失配误差 | 第54-66页 |
| 2.4.1 先进工艺对集成电路的影响 | 第55-56页 |
| 2.4.2 先进工艺对电流源匹配性的影响 | 第56-66页 |
| 2.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |
| 第三章 数模转换器的静态失配误差校准 | 第68-94页 |
| 3.1 已有静态失配误差校准方法 | 第69-73页 |
| 3.1.1 静态开关序列方法 | 第69-70页 |
| 3.1.2 可调整开关序列方法 | 第70页 |
| 3.1.3 自校准方法 | 第70-73页 |
| 3.1.4 传统校准方法的不足 | 第73页 |
| 3.2 随机时钟全校准方法 | 第73-87页 |
| 3.2.1 校准电路的基本结构 | 第74-75页 |
| 3.2.2 校准环路的稳定性 | 第75-76页 |
| 3.2.3 校准电路的精度 | 第76-77页 |
| 3.2.4 保持电容的选取 | 第77-80页 |
| 3.2.5 高低位电流源全校准方法 | 第80-82页 |
| 3.2.6 校准周期的随机化 | 第82-85页 |
| 3.2.7 校准的时序设计 | 第85-87页 |
| 3.3 校准方法的实现 | 第87-93页 |
| 3.3.1 数字校准模块的综合 | 第87-91页 |
| 3.3.2 运算放大器的设计 | 第91-93页 |
| 3.4 本章小结 | 第93页 |
| 参考文献 | 第93-94页 |
| 第四章 数模转换器的动态失配误差校准 | 第94-112页 |
| 4.1 已有动态失配误差校准方法 | 第95-98页 |
| 4.1.1 动态失配布线方法 | 第95-96页 |
| 4.1.2 可调延时锁存器方法 | 第96-97页 |
| 4.1.3 动态元件匹配方法 | 第97-98页 |
| 4.1.4 传统校准方法的不足 | 第98页 |
| 4.2 针对输出相关延时误差的校准方法 | 第98-103页 |
| 4.2.1 输出跟随校准方法的算法推导 | 第98-101页 |
| 4.2.2 输出跟随校准方法的电路实现及验证 | 第101-103页 |
| 4.3 针对多通道间动态失配的校准方法 | 第103-110页 |
| 4.3.1 时间交织数模转换器结构 | 第104-105页 |
| 4.3.2 双随机温度计码方法 | 第105-106页 |
| 4.3.3 时间交织型数模转换器通道失配效应 | 第106-107页 |
| 4.3.4 动态通道匹配方法 | 第107-110页 |
| 4.4 本章小结 | 第110页 |
| 参考文献 | 第110-112页 |
| 第五章 数模转换器在纳米CMOS工艺下的鲁棒性设计 | 第112-128页 |
| 5.1 可制造性设计(DFM) | 第113-117页 |
| 5.1.1 DFM概述 | 第113-115页 |
| 5.1.2 DFM策略 | 第115-117页 |
| 5.2 数模转换器关键模块鲁棒性设计方法 | 第117-122页 |
| 5.2.1 单通道数模转换器的整体结构 | 第117-118页 |
| 5.2.2 电流源阵列结构 | 第118-120页 |
| 5.2.3 锁存驱动器与开关 | 第120-122页 |
| 5.3 多通道数模转换器的鲁棒性设计方法 | 第122-126页 |
| 5.3.1 多通道电流源阵列鲁棒性设计方法 | 第122-124页 |
| 5.3.2 多通道偏置电路的鲁棒性设计方法 | 第124-126页 |
| 5.4 本章小结 | 第126页 |
| 参考文献 | 第126-128页 |
| 第六章 电路实现及实验验证 | 第128-152页 |
| 6.1 数模转换器的共性电路设计 | 第129-134页 |
| 6.1.1 共性电路——时钟驱动器的设计 | 第129-133页 |
| 6.1.2 共性电路——降摆幅驱动器的设计 | 第133-134页 |
| 6.2 数模转换器的系统指标与测试方案 | 第134-139页 |
| 6.2.1 系统指标 | 第134-135页 |
| 6.2.2 测试PCB板的设计 | 第135-137页 |
| 6.2.3 数模转换器的静态参数测试方案 | 第137-138页 |
| 6.2.4 数模转换器的动态参数测试方案 | 第138-139页 |
| 6.3 验证静态失配校准的原型芯片设计与测试分析 | 第139-145页 |
| 6.3.1 芯片设计 | 第139-140页 |
| 6.3.2 测试分析 | 第140-145页 |
| 6.4 验证纳米CMOS鲁棒性设计的原型芯片设计与测试分析 | 第145-150页 |
| 6.4.1 芯片设计 | 第145-146页 |
| 6.4.2 测试分析 | 第146-150页 |
| 6.5 本章小结 | 第150-151页 |
| 参考文献 | 第151-152页 |
| 第七章 总结与展望 | 第152-154页 |
| 7.1 总结 | 第152-153页 |
| 7.2 展望 | 第153-154页 |
| 致谢 | 第154-156页 |
| 攻读学位期间取得的主要研究成果 | 第156-158页 |