摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 引言 | 第9-10页 |
1.2 隔离器型增益平坦滤波器的应用 | 第10页 |
1.3 增益平坦滤波器的发展概况 | 第10-13页 |
1.3.1 基于薄膜滤波技术的增益平坦滤波器 | 第10-11页 |
1.3.2 基于微光正弦滤波技术的增益平坦滤波器 | 第11-12页 |
1.3.3 基于光纤光栅滤波技术的增益平坦滤波器 | 第12页 |
1.3.4 几种增益平坦滤波器实现技术的比较 | 第12-13页 |
1.4 课题研究的主要内容和意义 | 第13-15页 |
第二章 基于单光纤结构的隔离器型增益平坦滤波器方案 | 第15-21页 |
2.1 隔离器型增益平坦滤波器的工作原理和特征曲线 | 第15页 |
2.2 基于介质薄膜滤波的隔离器型增益平坦滤波器 | 第15-17页 |
2.3 单光纤准直器结构设计 | 第17-20页 |
2.3.1 改变 C 透镜的球面曲率半径 | 第18-19页 |
2.3.2 改变 C 透镜的材料折射率 | 第19-20页 |
2.4 本章小结 | 第20-21页 |
第三章 隔离器型增益平坦滤波器的设计 | 第21-33页 |
3.1 设计的目的及要求 | 第21-22页 |
3.2 设计目标 | 第22-23页 |
3.3 结构设计 | 第23页 |
3.4 单光纤准直器参数确定 | 第23-26页 |
3.4.1 单光纤头 | 第24-25页 |
3.4.2 C 透镜 | 第25页 |
3.4.3 玻璃管 | 第25-26页 |
3.4.4 金属管 | 第26页 |
3.5 增益平坦滤波器滤波片参数确定 | 第26-27页 |
3.5.1 介质薄膜滤波片的选择 | 第26页 |
3.5.2 隔离器型增益平坦滤波器滤波片参数的选择 | 第26-27页 |
3.6 胶粘结剂的选择 | 第27-29页 |
3.6.1 胶粘结剂的选用原则 | 第28-29页 |
3.6.2 胶粘剂剂的性能参数 | 第29页 |
3.7 隔离器芯的选择 | 第29-31页 |
3.8 带角度的玻璃管 | 第31页 |
3.9 焊桥 | 第31页 |
3.10 外套和护套 | 第31页 |
3.11 元器件的表面处理技术 | 第31-32页 |
3.11.1 焊接金属管的表面处理 | 第32页 |
3.11.2 玻璃管的表面处理 | 第32页 |
3.11.3 其它元器件的表面处理 | 第32页 |
3.12 本章小结 | 第32-33页 |
第四章 隔离器型增益平坦滤波器的制作 | 第33-43页 |
4.1 单光纤准直器的生产 | 第33-35页 |
4.1.1 C 透镜上玻璃管 | 第33-34页 |
4.1.2 准直器调试 | 第34-35页 |
4.1.3 上金属管 | 第35页 |
4.2 隔离器型增益平坦滤波器的装配 | 第35-41页 |
4.2.1 增益滤波膜片的粘结 | 第35-37页 |
4.2.2 增益滤波芯的调试 | 第37-38页 |
4.2.3 隔离器芯的调试 | 第38-39页 |
4.2.4 隔离器型增益平坦滤波器焊接调试 | 第39-40页 |
4.2.5 隔离器型增益平坦滤波器封装 | 第40-41页 |
4.3 隔离器型增益平坦滤波器的工艺难点及优化 | 第41-42页 |
4.3.1 紫外固化参数的选择 | 第41-42页 |
4.3.2 紫外固化后的应力释放 | 第42页 |
4.3.3 焊接温度及时间的控制 | 第42页 |
4.3.4 焊接后的密封性检测及应力释放 | 第42页 |
4.4 本章小结 | 第42-43页 |
第五章 样品性能测试及结果分析 | 第43-50页 |
5.1 光学性能指标分析 | 第43-45页 |
5.1.1 插入损耗误差函数 | 第43-44页 |
5.1.2 插入损耗 | 第44页 |
5.1.3 偏振相关损耗 | 第44-45页 |
5.1.4 光隔离度 | 第45页 |
5.1.5 回波损耗 | 第45页 |
5.2 检测设备 | 第45-47页 |
5.3 初期样品测量数据及分析 | 第47-48页 |
5.3.1 初期样品的测量数据 | 第47-48页 |
5.3.2 初期样品测量数据分析 | 第48页 |
5.4 尺寸分析 | 第48-49页 |
5.5 本章小结 | 第49-50页 |
第六章 隔离器型增益平坦滤波器的可靠性性能测试与分析 | 第50-55页 |
6.1 光无源器件可靠性评价机理 | 第50-51页 |
6.2 光无源器件可靠性测试实验内容 | 第51页 |
6.3 产品机械冲击、变频振动的可靠性测试 | 第51-52页 |
6.4 产品长期高温高湿的可靠性测试 | 第52-53页 |
6.5 产品高低温循环的可靠性测试 | 第53-54页 |
6.6 产品长期高低温存储的可靠性测试 | 第54-55页 |
第七章 总结与展望 | 第55-57页 |
7.1 结论 | 第55-56页 |
7.2 未来发展与展望 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
致谢 | 第60页 |