基于超像素的全局显著性区域检测
| 目录 | 第4-6页 |
| TABLE OF CONTENTS | 第6-8页 |
| 摘要 | 第8-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第12-13页 |
| 1.2 研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 本文主要工作和创新点 | 第15-16页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 显著性区域检测的经典方法 | 第18-37页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 经典方法介绍 | 第18-33页 |
| 2.2.1 IT模型 | 第18-20页 |
| 2.2.2 MZ模型 | 第20-21页 |
| 2.2.3 GB模型 | 第21-23页 |
| 2.2.4 AC模型 | 第23-25页 |
| 2.2.5 LC模型 | 第25-26页 |
| 2.2.6 HC模型 | 第26-27页 |
| 2.2.7 RC模型 | 第27-28页 |
| 2.2.8 FT模型 | 第28-30页 |
| 2.2.9 SR模型 | 第30-31页 |
| 2.2.10 CA模型 | 第31-33页 |
| 2.3 显著性分析的一般解决方案 | 第33-34页 |
| 2.4 小结 | 第34-37页 |
| 第3章 基于超像素的全局显著性区域检测方法 | 第37-50页 |
| 3.1 引言 | 第37-38页 |
| 3.2 超像素聚类方法HAIC | 第38-42页 |
| 3.2.1 排布种子点 | 第39-41页 |
| 3.2.2 迭代搜寻匹配像素 | 第41页 |
| 3.2.3 确保连通性 | 第41-42页 |
| 3.3 基于超像素的全局显著性分析方法 | 第42-47页 |
| 3.3.1 全局显著性分析 | 第43-44页 |
| 3.3.2 核心物体聚焦 | 第44-46页 |
| 3.3.3 性能比较 | 第46-47页 |
| 3.4 小结 | 第47-50页 |
| 第4章 显著性分析应用研究与实验 | 第50-58页 |
| 4.1 引言 | 第50页 |
| 4.2 核心区域锁定 | 第50-52页 |
| 4.3 前景提取 | 第52-55页 |
| 4.3.1 遍历阈值提取 | 第52-53页 |
| 4.3.2 优化提取 | 第53-55页 |
| 4.4 前景敏感缩放 | 第55-57页 |
| 4.5 小结 | 第57-58页 |
| 第5章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 5.1 总结 | 第58-59页 |
| 5.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第65-66页 |
| 攻读学位期间参与科研项目情况 | 第66-67页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第67页 |
