X射线微分相位衬度成像及CT的理论和方法研究
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第12-24页 |
1.1 课题研究意义 | 第12-14页 |
1.2 研究背景及发展趋势 | 第14-20页 |
1.2.1 研究背景 | 第14-17页 |
1.2.2 发展趋势 | 第17-20页 |
1.3 论文研究思路和结构安排 | 第20-24页 |
第2章 X射线成像理论 | 第24-38页 |
2.1 X射线与物质的相互作用 | 第24-27页 |
2.1.1 粒子性 | 第24-26页 |
2.1.2 波动性 | 第26-27页 |
2.2 X射线吸收成像 | 第27-28页 |
2.3 X射线相位衬度成像 | 第28-35页 |
2.3.1 晶体干涉仪 | 第30-31页 |
2.3.2 相位传播技术 | 第31-32页 |
2.3.3 衍射增强成像 | 第32-33页 |
2.3.4 光栅干涉仪 | 第33-34页 |
2.3.5 各种相衬成像技术的比较 | 第34-35页 |
2.4 X射线散射成像 | 第35-38页 |
第3章 X射线微分相位衬度成像 | 第38-56页 |
3.1 衍射增强成像 | 第38-42页 |
3.2 光栅相衬成像 | 第42-56页 |
3.2.1 Talbot效应 | 第42-43页 |
3.2.2 Talbot干涉仪 | 第43-45页 |
3.2.3 Lau效应 | 第45-46页 |
3.2.4 Talbot-Lau干涉仪 | 第46-50页 |
3.2.5 非相干条件下的光栅相衬成像 | 第50-56页 |
第4章 X射线微分相位衬度成像的信息分离方法 | 第56-78页 |
4.1 衍射增强成像的信息分离 | 第56-65页 |
4.1.1 Chapman几何光学近似法 | 第57-58页 |
4.1.2 Rigon的近似方法 | 第58-61页 |
4.1.3 扩展的衍射增强算法 | 第61页 |
4.1.4 普适的衍射增强算法 | 第61-62页 |
4.1.5 多图法 | 第62-63页 |
4.1.6 逐个像素的高斯曲线拟合方法 | 第63-65页 |
4.2 光栅相衬成像的信息分离方法 | 第65-78页 |
4.2.1 相位步进方法 | 第65-72页 |
4.2.2 交错相步进方法 | 第72-73页 |
4.2.3 莫尔条纹分析方法 | 第73-74页 |
4.2.4 共轭射线方法 | 第74-76页 |
4.2.5 能量分辨方法 | 第76-78页 |
第5章 角度信号响应成像理论及噪声分析 | 第78-98页 |
5.1 角度信号响应模型 | 第78-82页 |
5.2 基于角度信号响应理论的信息提取算法 | 第82-89页 |
5.2.1 衍射增强成像 | 第82-88页 |
5.2.2 光栅相衬成像 | 第88-89页 |
5.3 噪声分析 | 第89-96页 |
5.3.1 相关噪声分析工作 | 第89-92页 |
5.3.2 角度信号响应理论的噪声分析 | 第92-96页 |
5.4 角度信号响应理论的推广 | 第96-98页 |
第6章 X射线微分相位衬度成像与CT技术的结合 | 第98-118页 |
6.1 吸收CT | 第98-101页 |
6.2 相位CT | 第101-110页 |
6.2.1 希尔伯特变换 | 第101-104页 |
6.2.2 光栅相位CT的噪声特性分析 | 第104-108页 |
6.2.3 模拟实验验证 | 第108-110页 |
6.3 散射CT | 第110-115页 |
6.4 几个设想 | 第115-118页 |
6.4.1 角度信号响应理论结合阶梯光栅 | 第115-116页 |
6.4.2 将阶梯光栅集成进探测器 | 第116页 |
6.4.3 阶梯光栅结合螺旋CT | 第116页 |
6.4.4 电磁相步进结合交错相步进 | 第116-118页 |
第7章 总结与展望 | 第118-122页 |
参考文献 | 第122-128页 |
附录 | 第128-138页 |
致谢 | 第138-140页 |
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第140页 |