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基于成形寻峰技术的大动态范围PMT读出ASIC研究

摘要第9-11页
ABSTRACT第11-12页
第1章 引言第13-21页
    1.1 LHAASO实验第14-15页
    1.2 LHAASO WCDA探测器第15-16页
    1.3 LHAASO WCDA读出电子学系统第16-17页
    1.4 基于ASIC的前端读出电子学技术研究第17-19页
    参考文献第19-21页
第2章 物理实验中的时间和电荷测量方法第21-67页
    2.1 时间测量方法第22-32页
        2.1.1 时间检出第23-26页
        2.1.2 时间数字化第26-32页
    2.2 电荷测量方法第32-44页
        2.2.1 波形数字化第32-34页
        2.2.2 过阈时间法第34-35页
        2.2.3 成形寻峰第35-44页
    2.3 物理实验中ASIC调研第44-60页
        2.3.1 SCA ASIC第44-48页
        2.3.2 TOT ASIC第48-52页
        2.3.3 成形寻峰ASIC第52-60页
        2.3.4 小结第60页
    2.4 本章小结第60页
    参考文献第60-67页
第3章 基于成形寻峰技术的PMT读出ASIC设计方案第67-74页
    3.1 系统设计需求第68-69页
        3.1.1 探测器输出信号特征第68页
        3.1.2 读出电子学指标要求第68-69页
    3.2 系统设计方案第69-72页
    3.3 本章小结第72-73页
    参考文献第73-74页
第4章 放大成形ASIC电路设计第74-110页
    4.1 电路整体结构设计第75-76页
    4.2 核心模块设计第76-98页
        4.2.1 输入级电路第76-80页
        4.2.2 电荷测量电路第80-95页
        4.2.3 时间测量电路第95-98页
    4.3 系统仿真第98-105页
        4.3.1 关键节点波形第99-100页
        4.3.2 电荷测量电路第100-104页
        4.3.3 时间测量电路第104-105页
    4.4 版图设计与后仿真第105-108页
    4.5 本章小结第108-109页
    参考文献第109-110页
第5章 逐次逼近型ADC ASIC电路设计第110-195页
    5.1 ADC整体结构设计第111-117页
        5.1.1 设计需求第111-113页
        5.1.2 ADC架构选择第113-115页
        5.1.3 逐次逼近型ASIC第115-117页
    5.2 核心模块设计第117-179页
        5.2.1 采样保持电路第117-128页
        5.2.2 电容DAC第128-145页
        5.2.3 动态比较器第145-164页
        5.2.4 异步SAR逻辑第164-171页
        5.2.5 参考电压第171-174页
        5.2.6 时钟模块第174-175页
        5.2.7 Bandgap与参考电流第175-179页
    5.3 系统仿真第179-184页
        5.3.1 功能仿真第180-181页
        5.3.2 性能仿真第181-183页
        5.3.3 指标总结第183-184页
    5.4 版图设计与后仿真第184-186页
    5.5 本章小结第186页
    参考文献第186-195页
第6章 ASIC测试结果第195-212页
    6.1 放大成形ASC测试第196-201页
        6.1.1 ASIC封装第196-197页
        6.1.2 测试系统设计第197-198页
        6.1.3 测试结果及分析第198-201页
    6.2 基于逐次比较结构的ADC ASIC测试第201-211页
        6.2.1 ASIC封装第201-202页
        6.2.2 测试系统设计第202-205页
        6.2.3 测试结果及分析第205-211页
    6.3 本章小结第211页
    参考文献第211-212页
第7章 总结与展望第212-215页
    7.1 总结第213-214页
    7.2 展望第214-215页
攻读学位期间发表及待发表的学术论文第215-216页
致谢第216页

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