摘要 | 第9-11页 |
ABSTRACT | 第11-12页 |
第1章 引言 | 第13-21页 |
1.1 LHAASO实验 | 第14-15页 |
1.2 LHAASO WCDA探测器 | 第15-16页 |
1.3 LHAASO WCDA读出电子学系统 | 第16-17页 |
1.4 基于ASIC的前端读出电子学技术研究 | 第17-19页 |
参考文献 | 第19-21页 |
第2章 物理实验中的时间和电荷测量方法 | 第21-67页 |
2.1 时间测量方法 | 第22-32页 |
2.1.1 时间检出 | 第23-26页 |
2.1.2 时间数字化 | 第26-32页 |
2.2 电荷测量方法 | 第32-44页 |
2.2.1 波形数字化 | 第32-34页 |
2.2.2 过阈时间法 | 第34-35页 |
2.2.3 成形寻峰 | 第35-44页 |
2.3 物理实验中ASIC调研 | 第44-60页 |
2.3.1 SCA ASIC | 第44-48页 |
2.3.2 TOT ASIC | 第48-52页 |
2.3.3 成形寻峰ASIC | 第52-60页 |
2.3.4 小结 | 第60页 |
2.4 本章小结 | 第60页 |
参考文献 | 第60-67页 |
第3章 基于成形寻峰技术的PMT读出ASIC设计方案 | 第67-74页 |
3.1 系统设计需求 | 第68-69页 |
3.1.1 探测器输出信号特征 | 第68页 |
3.1.2 读出电子学指标要求 | 第68-69页 |
3.2 系统设计方案 | 第69-72页 |
3.3 本章小结 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-74页 |
第4章 放大成形ASIC电路设计 | 第74-110页 |
4.1 电路整体结构设计 | 第75-76页 |
4.2 核心模块设计 | 第76-98页 |
4.2.1 输入级电路 | 第76-80页 |
4.2.2 电荷测量电路 | 第80-95页 |
4.2.3 时间测量电路 | 第95-98页 |
4.3 系统仿真 | 第98-105页 |
4.3.1 关键节点波形 | 第99-100页 |
4.3.2 电荷测量电路 | 第100-104页 |
4.3.3 时间测量电路 | 第104-105页 |
4.4 版图设计与后仿真 | 第105-108页 |
4.5 本章小结 | 第108-109页 |
参考文献 | 第109-110页 |
第5章 逐次逼近型ADC ASIC电路设计 | 第110-195页 |
5.1 ADC整体结构设计 | 第111-117页 |
5.1.1 设计需求 | 第111-113页 |
5.1.2 ADC架构选择 | 第113-115页 |
5.1.3 逐次逼近型ASIC | 第115-117页 |
5.2 核心模块设计 | 第117-179页 |
5.2.1 采样保持电路 | 第117-128页 |
5.2.2 电容DAC | 第128-145页 |
5.2.3 动态比较器 | 第145-164页 |
5.2.4 异步SAR逻辑 | 第164-171页 |
5.2.5 参考电压 | 第171-174页 |
5.2.6 时钟模块 | 第174-175页 |
5.2.7 Bandgap与参考电流 | 第175-179页 |
5.3 系统仿真 | 第179-184页 |
5.3.1 功能仿真 | 第180-181页 |
5.3.2 性能仿真 | 第181-183页 |
5.3.3 指标总结 | 第183-184页 |
5.4 版图设计与后仿真 | 第184-186页 |
5.5 本章小结 | 第186页 |
参考文献 | 第186-195页 |
第6章 ASIC测试结果 | 第195-212页 |
6.1 放大成形ASC测试 | 第196-201页 |
6.1.1 ASIC封装 | 第196-197页 |
6.1.2 测试系统设计 | 第197-198页 |
6.1.3 测试结果及分析 | 第198-201页 |
6.2 基于逐次比较结构的ADC ASIC测试 | 第201-211页 |
6.2.1 ASIC封装 | 第201-202页 |
6.2.2 测试系统设计 | 第202-205页 |
6.2.3 测试结果及分析 | 第205-211页 |
6.3 本章小结 | 第211页 |
参考文献 | 第211-212页 |
第7章 总结与展望 | 第212-215页 |
7.1 总结 | 第213-214页 |
7.2 展望 | 第214-215页 |
攻读学位期间发表及待发表的学术论文 | 第215-216页 |
致谢 | 第216页 |