| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 偏振态检测的背景、意义 | 第8-9页 |
| 1.2 偏振态检测技术的发展概况 | 第9-13页 |
| 1.2.1 Fourier分析法 | 第9-10页 |
| 1.2.2 电光调制法 | 第10-11页 |
| 1.2.3 分振幅法 | 第11页 |
| 1.2.4 光纤干涉偏振分析法 | 第11-13页 |
| 1.3 本课题的创新点及结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 偏光干涉法测量偏振态的原理分析 | 第14-35页 |
| 2.1 偏振光的描述及参数定义 | 第14-21页 |
| 2.1.1 三角函数表示法 | 第14-16页 |
| 2.1.2 琼斯(Jones)矢量法 | 第16-18页 |
| 2.1.3 斯托克斯(Stokes)矢量法 | 第18-20页 |
| 2.1.4 邦加(Poincare)球法 | 第20-21页 |
| 2.2 偏光干涉法测量完全偏振光的理论分析 | 第21-34页 |
| 2.2.1 晶体劈模型 | 第21-22页 |
| 2.2.2 偏振光检测理论分析 | 第22-25页 |
| 2.2.2.1 相位差检测 | 第22-24页 |
| 2.2.2.2 振幅比角检测 | 第24-25页 |
| 2.2.3 基于Matlab的偏振光检测仿真模拟 | 第25-33页 |
| 2.2.3.1 线偏振光仿真模拟 | 第25-28页 |
| 2.2.3.2 等振幅椭圆偏振光仿真模拟 | 第28-30页 |
| 2.2.3.3 一般椭圆偏振光仿真模拟 | 第30-33页 |
| 2.2.4 偏光干涉法的适用范围及测量误差分析 | 第33-34页 |
| 2.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 偏光干涉法测量偏振态实验系统的搭建 | 第35-43页 |
| 3.1 光学实验系统的搭建 | 第35-38页 |
| 3.1.1 实验器件介绍 | 第35-37页 |
| 3.1.2 相位差和振幅比角实验系统的搭建 | 第37-38页 |
| 3.2 基于Labview的图像采集及图像处理 | 第38-42页 |
| 3.2.1 Labview简介 | 第38-39页 |
| 3.2.2 Labview程序设计及数据处理方法 | 第39-42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 偏光干涉法测量偏振态的实验研究 | 第43-65页 |
| 4.1 完全椭圆偏振光检测 | 第43-50页 |
| 4.1.1 完全偏振光的产生 | 第43-44页 |
| 4.1.2 完全偏振光检测 | 第44-50页 |
| 4.1.2.1 线偏振光和等振幅椭圆偏振光检测 | 第44-46页 |
| 4.1.2.2 一般椭圆偏振光检测 | 第46-50页 |
| 4.2 偏光干涉法测量偏振态的应用 | 第50-64页 |
| 4.2.1 铌酸锂晶体半波电压的测量 | 第50-59页 |
| 4.2.1.1 电光晶体的Pockels电光效应 | 第50-54页 |
| 4.2.1.2 偏光干涉法测量LN晶体半波电压的原理分析 | 第54-55页 |
| 4.2.1.3 实验测量和结果讨论 | 第55-57页 |
| 4.2.1.4 极值法测量LN晶体的半波电压 | 第57-59页 |
| 4.2.2 扭曲向列型液晶平均指向矢的动态测量 | 第59-64页 |
| 4.2.2.1 液晶的电光效应原理 | 第60-61页 |
| 4.2.2.2 实验装置和定标 | 第61-62页 |
| 4.2.2.3 实验结果和讨论 | 第62-64页 |
| 4.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第72页 |