基于ARM11的变压器绕组变形测试仪
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 引言 | 第9-14页 |
1.1 课题研究背景与意义 | 第9页 |
1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
1.2.1 低压脉冲法 | 第9-10页 |
1.2.2 短路阻抗法 | 第10页 |
1.2.3 电容量变化法 | 第10页 |
1.2.4 频率响应法 | 第10-11页 |
1.3 嵌入式系统的介绍 | 第11-12页 |
1.4 论文研究的主要内容 | 第12-14页 |
2 绕组变形类型及频率响应等效模型 | 第14-20页 |
2.1 变压器的构造 | 第14页 |
2.2 变压器绕组故障类型分析 | 第14-17页 |
2.2.1 常见故障对变压器绕组的影响 | 第14-15页 |
2.2.2 绕组发生变形的原因分析 | 第15-16页 |
2.2.3 绕组变形种类的频响分析 | 第16-17页 |
2.3 变压器绕组频率响应等效模型 | 第17-18页 |
2.4 变压器绕组检测系统 | 第18-19页 |
2.5 本章小结 | 第19-20页 |
3 变压器绕组变形测试仪硬件设计 | 第20-36页 |
3.1 ARM 控制管理模块 | 第20-27页 |
3.1.1 S3C6410 处理器简介 | 第20页 |
3.1.2 ARM 最小系统 | 第20-24页 |
3.1.3 SD 卡接口 | 第24页 |
3.1.4 USB 接口 | 第24-25页 |
3.1.5 触摸屏接口 | 第25-26页 |
3.1.6 DM9000 网络接口 | 第26页 |
3.1.7 串行通讯接口 | 第26-27页 |
3.2 信号发生模块设计 | 第27-32页 |
3.2.1 扫频信号发生模块总体结构 | 第27-28页 |
3.2.2 DDS 的基本原理 | 第28-29页 |
3.2.3 DDS 信号发生器 | 第29-31页 |
3.2.4 功率放大电路设计 | 第31-32页 |
3.3 数据采集模块设计 | 第32-34页 |
3.3.1 有效值转换电路设计 | 第32-33页 |
3.3.2 A/D 模数转换器电路设计 | 第33-34页 |
3.4 本章小结 | 第34-36页 |
4 绕组变形测试仪底层软件设计 | 第36-54页 |
4.1 Linux 在 ARM 上的移植 | 第36-40页 |
4.1.1 建立交叉编译环境 | 第36页 |
4.1.2 Boot1oader 的分析 | 第36-37页 |
4.1.3 Linux 内核的移植 | 第37-39页 |
4.1.4 文件系统的构建 | 第39-40页 |
4.2 基于嵌入式 LINUX 底层驱动程序 | 第40-53页 |
4.2.1 Linux 下的输入子系统 | 第40-44页 |
4.2.2 Linux 下平台设备的开发 | 第44-45页 |
4.2.3 DDS 驱动的开发 | 第45-48页 |
4.2.4 网络设备驱动 | 第48-49页 |
4.2.5 触摸屏驱动 | 第49-53页 |
4.3 本章小结 | 第53-54页 |
5 绕组变形测试仪上层软件设计 | 第54-63页 |
5.1 人机交互系统 | 第54页 |
5.2 波形发生软件设计 | 第54-57页 |
5.2.1 位置式 PID 控制算法 | 第54-55页 |
5.2.2 增量式 PID 控制算法 | 第55-56页 |
5.2.3 波形幅值的 PID 调节部分程序 | 第56-57页 |
5.3 检测仪与 PC 之间的通信设计 | 第57-62页 |
5.3.1 通信协议 | 第57-58页 |
5.3.2 串口通信初始化 | 第58-60页 |
5.3.3 Socket 网络通信 | 第60-62页 |
5.4 本章小结 | 第62-63页 |
6 结论与展望 | 第63-64页 |
6.1 结论 | 第63页 |
6.2 展望 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
在读期间发表的学术论文 | 第66-67页 |
作者简历 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |