| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| 1.1 微波信号源相位噪声测量技术研究的意义 | 第12页 |
| 1.2 微波源相位噪声测量技术的国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 基于微波光子技术的相位噪声测量系统的关键技术 | 第14-15页 |
| 1.4 本文的内容安排 | 第15-17页 |
| 第二章 微波源的相位噪声及其传统的测量方法 | 第17-24页 |
| 2.1 相位噪声 | 第17-19页 |
| 2.2 常用的微波源相位噪声测量方法 | 第19-23页 |
| 2.2.1 直接频谱技术 | 第20-21页 |
| 2.2.2 鉴相技术 | 第21-23页 |
| 2.2.3 鉴频技术 | 第23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 基于光纤延时的微波源相位噪声测量技术 | 第24-34页 |
| 3.1 引言 | 第24页 |
| 3.2 基于延时线的相位噪声测量技术 | 第24-26页 |
| 3.3 基于光延时的相位噪声测量系统 | 第26-33页 |
| 3.3.1 基本原理 | 第26-27页 |
| 3.3.2 基于光纤延时的相位噪声测量系统的校准 | 第27-29页 |
| 3.3.3 基于光延时的相位噪声测量系统的噪声基底 | 第29-30页 |
| 3.3.4 实验结果与分析 | 第30-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于微波光子技术的宽带相位噪声测量技术 | 第34-54页 |
| 4.1 引言 | 第34页 |
| 4.2 基于微波光子移相技术的微波源相位噪声测量系统 | 第34-40页 |
| 4.2.1 微波光子移相技术 | 第34-36页 |
| 4.2.2 基于微波光子移相技术的相位噪声测量方案的原理分析 | 第36-38页 |
| 4.2.3 实验结果及分析 | 第38-40页 |
| 4.2.4 实验小结 | 第40页 |
| 4.3 基于微波光子下变频技术的微波源相位噪声测量系统 | 第40-45页 |
| 4.3.1 基于级联光电调制器的微波下变频器 | 第40-42页 |
| 4.3.2 基于微波光子下变频技术的相位噪声测量方案的原理分析 | 第42-43页 |
| 4.3.3 实验结果及分析 | 第43-45页 |
| 4.3.4 实验小结 | 第45页 |
| 4.4 基于微波光子技术的微波源相位噪声测量系统 | 第45-49页 |
| 4.4.1 基于微波光子技术的相位噪声测试方案的原理分析 | 第46-48页 |
| 4.4.2 试验结果及分析 | 第48-49页 |
| 4.4.3 实验小结 | 第49页 |
| 4.5 基于双通道互相关技术的微波源相位噪声测量系统 | 第49-53页 |
| 4.5.1 双通道互相关的基本原理分析 | 第49-51页 |
| 4.5.2 基于双通道互相关技术的相位噪声测试系统 | 第51-53页 |
| 4.5.3 微波源相位噪声测试仪研制 | 第53页 |
| 4.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第61页 |
