| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题来源 | 第9页 |
| 1.2 课题研究背景及意义 | 第9页 |
| 1.3 国内外研究概况 | 第9-11页 |
| 1.4 论文结构 | 第11-13页 |
| 第二章 量子逻辑电路基础 | 第13-26页 |
| 2.1 传统可逆逻辑门 | 第13-17页 |
| 2.1.1 非门 | 第13页 |
| 2.1.2 Toffoli门系列 | 第13-15页 |
| 2.1.3 交换门系列 | 第15-17页 |
| 2.2 量子比特和量子逻辑门 | 第17-21页 |
| 2.2.1 量子比特 | 第17-18页 |
| 2.2.2 基本量子门 | 第18-21页 |
| 2.3 常见故障模型 | 第21-23页 |
| 2.3.1 固定故障模型 | 第21-22页 |
| 2.3.2 控制点故障模型 | 第22页 |
| 2.3.3 门丢失模型 | 第22-23页 |
| 2.3.4 冗余门故障模型 | 第23页 |
| 2.4 故障检测 | 第23-25页 |
| 2.4.1 故障模型分类 | 第23-25页 |
| 2.4.2 故障检测简介 | 第25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 量子电路故障检测 | 第26-36页 |
| 3.1 测试向量集 | 第26-28页 |
| 3.2 最小完备测试集生成算法 | 第28-31页 |
| 3.2.1 模型假设 | 第28页 |
| 3.2.2 算法描述 | 第28-31页 |
| 3.3 示例 | 第31-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-36页 |
| 第四章 基于计数的故障定位 | 第36-46页 |
| 4.1 故障定位树的生成 | 第36-41页 |
| 4.1.1 算法描述 | 第36-38页 |
| 4.1.2 举例 | 第38-41页 |
| 4.2 黑盒检测定位 | 第41-45页 |
| 4.2.1 量子电路黑盒检测 | 第41-42页 |
| 4.2.2 算法描述 | 第42-43页 |
| 4.2.3 示例 | 第43-45页 |
| 4.3 本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 基于信息熵的故障定位 | 第46-53页 |
| 5.1 信息熵与信息量 | 第46-47页 |
| 5.1.1 信息熵 | 第46页 |
| 5.1.2 信息量 | 第46页 |
| 5.1.3 故障表信息量 | 第46-47页 |
| 5.2 故障信息表的生成 | 第47-48页 |
| 5.3 定位树生成算法 | 第48-49页 |
| 5.4 算法举例 | 第49-51页 |
| 5.5 实验验证及分析 | 第51-52页 |
| 5.6 本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 LNN电路的故障定位 | 第53-59页 |
| 6.1 线性最近邻（LNN） | 第53页 |
| 6.2 基于NCV门库的线性最近邻量子电路的故障定位 | 第53-57页 |
| 6.2.1 故障模型 | 第53-54页 |
| 6.2.2 基于计数故障定位算法示例 | 第54-56页 |
| 6.2.3 基于信息熵的故障定位示例 | 第56-57页 |
| 6.3 本章小结 | 第57-59页 |
| 第七章 结论与展望 | 第59-61页 |
| 7.1 结论 | 第59页 |
| 7.2 展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 英文缩写词表 | 第64-65页 |
| 作者在攻读硕士学位期间公开发表的论文及参加的项目 | 第65-66页 |
| A：在国内外刊物上发表的论文 | 第65页 |
| B：申请的发明专利 | 第65页 |
| C：参加的项目 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |