基于NVDIMM的非易失性内存系统的设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-11页 |
| 1.1 课题背景 | 第9页 |
| 1.2 业界发展动态 | 第9-10页 |
| 1.3 研究内容和意义 | 第10页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第10-11页 |
| 第二章 基础知识研究 | 第11-23页 |
| 2.1 随机存储器 | 第11-14页 |
| 2.2 闪存分析 | 第14-22页 |
| 2.3 电容研究 | 第22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 需求分析与系统概要设计 | 第23-31页 |
| 3.1 需求分析 | 第23页 |
| 3.2 系统硬件架构设计 | 第23-27页 |
| 3.2.0 电源模块 | 第24-25页 |
| 3.2.1 闪存模块 | 第25页 |
| 3.2.2 内存模块 | 第25页 |
| 3.2.3 电容包模块 | 第25页 |
| 3.2.4 寄存器模块 | 第25-26页 |
| 3.2.5 显示模块 | 第26页 |
| 3.2.6 主控制器模块 | 第26-27页 |
| 3.3 软件架构设计 | 第27-30页 |
| 3.3.1 上电模式 | 第28页 |
| 3.3.2 数据非保护模式 | 第28页 |
| 3.3.3 数据保护模式 | 第28页 |
| 3.3.4 数据擦除模式 | 第28-29页 |
| 3.3.5 数据备份模式 | 第29页 |
| 3.3.6 数据备份中断模式 | 第29页 |
| 3.3.7 数据恢复模式 | 第29-30页 |
| 3.3.8 错误处理模式 | 第30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 系统详细设计和实现 | 第31-54页 |
| 4.1 开发环境和语言 | 第31页 |
| 4.2 电容包模块 | 第31-40页 |
| 4.2.1 电容选择分析 | 第31-33页 |
| 4.2.2 电容包参数管理 | 第33-34页 |
| 4.2.3 电容包的电压和温度采集程序 | 第34-37页 |
| 4.2.4 电容包的容值计算 | 第37-40页 |
| 4.3 系统升级模块 | 第40-47页 |
| 4.3.1 配置芯片的选择 | 第40-41页 |
| 4.3.2 模式配置设计 | 第41-44页 |
| 4.3.3 升级模块的程序设计 | 第44-47页 |
| 4.4 数据备份和恢复模块 | 第47-53页 |
| 4.4.1 数据备份模块程序设计 | 第47-50页 |
| 4.4.2 数据恢复模块程序设计 | 第50-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 系统测试 | 第54-65页 |
| 5.1 电容包模块测试 | 第54-57页 |
| 5.1.1 电容包电压温度测试 | 第54页 |
| 5.1.2 电容容值测试 | 第54-57页 |
| 5.2 升级模块测试 | 第57-59页 |
| 5.2.1 模式转换测试 | 第57-58页 |
| 5.2.2 升级子模块测试 | 第58-59页 |
| 5.3 集成测试 | 第59-64页 |
| 5.3.1 测试工具 | 第59-60页 |
| 5.3.2 系统测试内容 | 第60-61页 |
| 5.3.3 测试结果记录 | 第61-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结和展望 | 第65-66页 |
| 6.1 论文结论 | 第65页 |
| 6.2 展望和发展 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-68页 |
