| 摘要 | 第1-11页 |
| Abstract | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| §1.1 传统的过程能力指数 | 第12-13页 |
| §1.2 非正态情形下过程能力指数的研究与发展 | 第13-14页 |
| §1.2.1 修正的过程能力指数 | 第13页 |
| §1.2.2 数据转换 | 第13-14页 |
| §1.3 过程能力指数的区间估计的研究现状及主要问题 | 第14-15页 |
| §1.4 不合格品率的计算 | 第15页 |
| §1.5 本文研究意义和主要结构 | 第15-17页 |
| 第二章 过程能力指数概述 | 第17-26页 |
| §2.1 传统过程能力指数分析概述 | 第17-21页 |
| §2.1.1 第一代过程能力指数Cp | 第18-19页 |
| §2.1.2 单侧公差情形下的过程能力指数 | 第19页 |
| §2.1.3 分布中心与目标值偏离的情形 | 第19-21页 |
| §2.2 过程能力指数与不合格品率的关系 | 第21-22页 |
| §2.2.1 Cp值与不合格品率的关系 | 第21-22页 |
| §2.3 非正态分布下改进的过程能力指数 | 第22-24页 |
| §2.3.1 Cpo指数 | 第23页 |
| §2.3.2 Cpok指数 | 第23-24页 |
| §2.3.3 CpoT指数 | 第24页 |
| §2.4 过程能力指数的区间估计 | 第24-26页 |
| §2.4.1 正态分布下过程能力指数Cp的区间估计 | 第24-26页 |
| 第三章 Bootstrap方法的理论基础 | 第26-30页 |
| §3.1 参数Bootstrap方法 | 第26-27页 |
| §3.2 非参数Bootstrap方法 | 第27页 |
| §3.3 Bootstrap方法过程总结 | 第27-28页 |
| §3.4 Bootstrap置信区间 | 第28-30页 |
| §3.4.1 标准Bootstrap置信区间(Standard Interval) | 第28页 |
| §3.4.2 百分位数Bootstrap置信区间 | 第28-29页 |
| §3.4.3 t百分位数Bootstrap(Percentile-t Bootstrap,PTB)方法 | 第29-30页 |
| 第四章 对不合格品率的非参数估计 | 第30-33页 |
| §4.1 直方图估计 | 第30-31页 |
| §4.2 核密度估计(Kernel Estimation) | 第31-32页 |
| §4.3 应用核密度估计进行不合格品率计算 | 第32-33页 |
| 第五章 Bootstrap方法在过程能力指数中的应用 | 第33-43页 |
| §5.1 指数分布 | 第33-36页 |
| §5.2 Gamma分布 | 第36-40页 |
| §5.3 应用核密度估计计算不合格品率 | 第40-41页 |
| §5.4 结果分析 | 第41-43页 |
| 第六章 结论及展望 | 第43-44页 |
| 附录 Bootstrap方法主要SAS程序 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
