数控系统可靠性分析设计与增长技术及其综合应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题来源与背景 | 第11页 |
| ·课题来源 | 第11页 |
| ·课题背景 | 第11页 |
| ·数控系统技术现状和发展趋势 | 第11-14页 |
| ·数控系统发展历史 | 第11-12页 |
| ·国内外数控系统比较 | 第12-13页 |
| ·数控技术发展趋势 | 第13-14页 |
| ·数控系统可靠性研究现状 | 第14-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-15页 |
| ·国内外研究综述 | 第15页 |
| ·论文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 数控系统软硬件综合可靠性分析 | 第17-38页 |
| ·软硬件综合可靠性特征 | 第17-19页 |
| ·多任务、实时性、交互性 | 第17-18页 |
| ·软硬件层次划分 | 第18-19页 |
| ·国产数控系统可靠性、维修性、可用性分析 | 第19-32页 |
| ·RAM指标综述 | 第19-20页 |
| ·RAM统计模型 | 第20-31页 |
| ·软硬件及其交互故障分布 | 第31-32页 |
| ·基于实时任务调度原理的软硬件综合可靠性模型 | 第32-37页 |
| ·软件系统分时结构模型 | 第32-34页 |
| ·软硬件综合可靠性模型 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 数控系统可靠性设计理论 | 第38-51页 |
| ·基于故障率λ的综合可靠性分配 | 第38-46页 |
| ·可靠性分配指标的选择 | 第38-39页 |
| ·故障率指标分配因素 | 第39-40页 |
| ·故障率λ随机模糊综合分配 | 第40-43页 |
| ·某国产数控系统故障率分配 | 第43-46页 |
| ·基于蒙特卡洛方法的可靠性预计 | 第46-49页 |
| ·分时可靠性模型的蒙特卡洛实现 | 第46-48页 |
| ·故障率分配结果的蒙特卡洛检验 | 第48-49页 |
| ·软硬件协同可靠性设计 | 第49-50页 |
| ·软硬件界面划分 | 第49页 |
| ·协同可靠性设计 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 数控系统可靠性增长技术 | 第51-62页 |
| ·可靠性增长概述 | 第51页 |
| ·数控系统软硬件综合可靠性增长模型 | 第51-58页 |
| ·全生命周期可靠性增长 | 第52页 |
| ·CNC软硬件综合G.O.-AMSAA增长模型 | 第52-55页 |
| ·增长效果仿真数据分析 | 第55-56页 |
| ·增长效果现场数据分析 | 第56-58页 |
| ·数控系统可靠性增长技术 | 第58-61页 |
| ·自诊断、自修复技术 | 第59-60页 |
| ·无维修使用技术 | 第60页 |
| ·相变存储器应用前景 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 现场试验及故障数据处理 | 第62-75页 |
| ·现场试验概要 | 第62-63页 |
| ·截尾时间有限的现场试验方案 | 第62页 |
| ·现场试验故障采集规范 | 第62-63页 |
| ·劣质修复对数据处理的影响 | 第63-67页 |
| ·修复等级分类 | 第63-64页 |
| ·劣质修复的判定及各子系统修复有效度分析 | 第64页 |
| ·基于马尔科夫链模型的稳态故障组成预计 | 第64-67页 |
| ·含零故障样本情况下MTBF置信下限的模糊估计 | 第67-70页 |
| ·定时截尾试验样本故障次数统计 | 第68页 |
| ·MTBF指标置信下限的模糊估计 | 第68-70页 |
| ·零故障情况下威布尔分布可靠度估计 | 第70-72页 |
| ·可靠度似然估计 | 第70-71页 |
| ·某国产系统无故障数据处理 | 第71-72页 |
| ·可靠性数据处理软件开发 | 第72-74页 |
| ·分布类型检验模块 | 第72-73页 |
| ·增长曲线监测模块 | 第73页 |
| ·蒙特卡洛仿真模块 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第6章 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 附录 | 第83-87页 |
| 附表1 可靠性试验运行记录表 | 第83-84页 |
| 附表2 可靠性试验故障记录表 | 第84-85页 |
| 附表3 故障分析报告表 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
