远紫外感应式阳极光子计数成像探测器研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-30页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第12-13页 |
| ·地球极光 | 第13-15页 |
| ·极光探测的研究现状 | 第15-20页 |
| ·广角极光成像仪 | 第20-24页 |
| ·光子计数成像探测器发展现状及存在问题 | 第24-28页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第28-30页 |
| 第2章 光子计数探测器组成及其原理 | 第30-46页 |
| ·光子计数成像探测器 | 第30-32页 |
| ·FUV 光子计数探测器结构组成及其工作原理 | 第32-43页 |
| ·感应电荷位敏阳极极间串扰较正 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第3章 远紫外感应式阳极光子计数探测器 | 第46-52页 |
| ·远紫外光子计数探测器窗口及光阴极选择 | 第46页 |
| ·微通道板工作参数 | 第46-47页 |
| ·楔条型阳极设计原则 | 第47-49页 |
| ·电子处理系统测试结果 | 第49-50页 |
| ·探测器的搭建 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 半导体薄膜对探测器成像性能影响 | 第52-74页 |
| ·感应电荷位敏阳极探测器结构 | 第52-54页 |
| ·半导体薄膜制备及其性质 | 第54-57页 |
| ·电子云感应特性理论分析 | 第57-61页 |
| ·电子云在半导体扩散理论分析 | 第61-66页 |
| ·不同半导体薄膜成像实验研究 | 第66-70页 |
| ·高温退火对探测器成像性能的影响 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-74页 |
| 第5章 光子计数成像探测器性能测评研究 | 第74-86页 |
| ·MCP 增益性能测评 | 第74-80页 |
| ·探测器分辨率测试 | 第80-83页 |
| ·光子计数成像探测器暗噪声检测 | 第83-84页 |
| ·光子计数成像探测器最大计数率 | 第84-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 第6章 光子计数探测器辐射定标研究 | 第86-100页 |
| ·裸露微通道板量子效率研究 | 第86-95页 |
| ·FUV 光子计数探测器辐射定标 | 第95-98页 |
| ·本章小结 | 第98-100页 |
| 第7章 基于 L-R 的图像盲卷积恢复算法 | 第100-110页 |
| ·光子计数探测图像恢复理论 | 第100-103页 |
| ·极大似然盲卷积恢复算法简介 | 第103-106页 |
| ·算法流程与实验结果 | 第106-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 第8章 总结与展望 | 第110-112页 |
| ·主要研究内容 | 第110-111页 |
| ·论文的主要创新点 | 第111页 |
| ·工作展望 | 第111-112页 |
| 参考文献 | 第112-120页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第120-122页 |
| 指导教师及作者简介 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124页 |
