FPC连接器高精度缺陷检测技术研究
致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
目次 | 第9-13页 |
图清单 | 第13-15页 |
表清单 | 第15-16页 |
1 绪论 | 第16-23页 |
·课题研究的背景及意义 | 第16-17页 |
·国内外研究现状 | 第17-19页 |
·自动光学检测系统 | 第19-21页 |
·自动光学检测系统简介 | 第19页 |
·摄像头的选择 | 第19页 |
·视频镜头的选择 | 第19-20页 |
·光源的选择 | 第20页 |
·检测算法及 SPC | 第20-21页 |
·论文主要研究内容及创新 | 第21-22页 |
·论文的组织结构 | 第22-23页 |
2 FPC 电子连接器自动光学检测系统总体设计 | 第23-32页 |
·检测系统原理 | 第23页 |
·检测内容 | 第23-27页 |
·功能性不良 | 第23-26页 |
·外观不良 | 第26-27页 |
·检测系统结构 | 第27-28页 |
·硬件系统 | 第28-30页 |
·图像采集系统概述 | 第28-29页 |
·图像采集系统具体方案设计 | 第29-30页 |
·机械移动系统概述 | 第30页 |
·本章小结 | 第30-32页 |
3 基于阈值分割的亚像素精度边缘再检测算法 | 第32-51页 |
·传统几何测量方法及存在的问题 | 第32-33页 |
·阈值分割算法 | 第33-37页 |
·阈值分割算法概述 | 第33-34页 |
·灰度阈值法 | 第34页 |
·最大熵阈值分割法 | 第34-35页 |
·最大类间方差法 | 第35-37页 |
·迭代法 | 第37页 |
·总结 | 第37页 |
·连通域提取算法 | 第37-41页 |
·传统的连通域提取算法 | 第38页 |
·基于行程的快速连通域轮廓跟踪算法 | 第38页 |
·算法思想 | 第38-39页 |
·算法流程图 | 第39-40页 |
·算法的优点和不足 | 第40-41页 |
·亚像素精度的几何测量方法 | 第41-43页 |
·亚像素的概念 | 第41页 |
·双线性插值算法 | 第41-42页 |
·基于亚像素的阈值分割算法思想 | 第42-43页 |
·实验结果与分析 | 第43-50页 |
·检测结果的准确性 | 第43-45页 |
·检测数据的重复精度 | 第45-48页 |
·检测速度 | 第48页 |
·批量抽样检测结果 | 第48-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
4 基于权重函数的二次迭代直线拟合算法 | 第51-66页 |
·图像预处理 | 第51-55页 |
·边缘检测 | 第51-53页 |
·非极大值抑制 | 第53页 |
·双阈值分割 | 第53-54页 |
·边缘细化 | 第54-55页 |
·传统的直线拟合算法 | 第55-58页 |
·最小二乘法直线拟合 | 第55-56页 |
·Hough 变换法直线拟合 | 第56-57页 |
·Radon 变换法直线拟合 | 第57-58页 |
·基于权重函数的二次迭代直线拟合算法 | 第58-60页 |
·改进的直线拟合方法原理 | 第58-59页 |
·权值函数的选取 | 第59-60页 |
·实验结果及分析 | 第60-64页 |
·检测结果的准确性 | 第60-63页 |
·检测数据的重复精度 | 第63-64页 |
·批量抽样检测结果 | 第64页 |
·本章小结 | 第64-66页 |
5 连接器异物检测 | 第66-74页 |
·连接器外观缺陷 | 第66-67页 |
·传统的表面检测方法 | 第67页 |
·数学形态学 | 第67-68页 |
·膨胀运算 | 第67页 |
·腐蚀运算 | 第67-68页 |
·开运算 | 第68页 |
·闭运算 | 第68页 |
·端子脚表面毛丝的检测原理和步骤 | 第68-72页 |
·图像预处理 | 第68-69页 |
·提取 ROI | 第69-70页 |
·平滑端子边界 | 第70-71页 |
·端子脚与毛丝异物分离 | 第71-72页 |
·实验结果与分析 | 第72-73页 |
·本章小结 | 第73-74页 |
6 总结与展望 | 第74-78页 |
·总结 | 第74-76页 |
·展望 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
作者简历 | 第81页 |