基于BIST的SRAM型FPGA测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·SRAM型FPGA测试方法研究现状 | 第10-13页 |
| ·基于ATE的测试方法 | 第10-12页 |
| ·基于BIST的测试方法 | 第12-13页 |
| ·现有测试方法的不足 | 第13-14页 |
| ·本文的研究目标及结构安排 | 第14-17页 |
| ·本文的研究目标 | 第14-15页 |
| ·本文的结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 故障模型化方法 | 第17-27页 |
| ·SRAM型FPGA结构特征 | 第17-20页 |
| ·可编程逻辑资源(CLB) | 第18-19页 |
| ·可编程互连资源(IR) | 第19-20页 |
| ·输入/输出模块(I/OB) | 第20页 |
| ·多资源联合测试的故障模型化方法 | 第20-26页 |
| ·现有故障模型化原则 | 第20-21页 |
| ·多资源联合测试的故障模型 | 第21-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 可控测试向量产生器设计 | 第27-40页 |
| ·现有测试向量产生方法 | 第27-28页 |
| ·可控测试向量产生器设计方法 | 第28-30页 |
| ·可控测试向量产生器具体实现过程 | 第30-39页 |
| ·寻找故障覆盖率最高个体 | 第30-32页 |
| ·生成控制码序列 | 第32-34页 |
| ·可控测试向量产生器的硬件实现 | 第34-37页 |
| ·利用基准电路对向量产生器进行验证 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 基于BIST的多资源联合测试方法实现 | 第40-56页 |
| ·本文测试方法总述 | 第40-42页 |
| ·测试模块设计 | 第42-45页 |
| ·BIST控制器设计 | 第45-50页 |
| ·故障导通电路设计 | 第45-46页 |
| ·故障词典模块设计 | 第46-47页 |
| ·控制电路模块设计 | 第47-48页 |
| ·校准电路模块设计 | 第48-50页 |
| ·配置方式设计 | 第50-51页 |
| ·测试路径设计 | 第51-52页 |
| ·测试步骤设计 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 对XC3SS00E芯片进行实测验证 | 第56-67页 |
| ·验证平台介绍 | 第56页 |
| ·XC2S500E芯片故障测试 | 第56-60页 |
| ·互连资源测试 | 第56-58页 |
| ·延时故障测试 | 第58-59页 |
| ·CLB资源测试 | 第59-60页 |
| ·下载配置XC2S500E芯片 | 第60-64页 |
| ·测试数据分析 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
| ·全文总结 | 第67-68页 |
| ·进一步工作 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 附录 | 第72-74页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第74页 |
