基于DW8051的SOC调试技术的研究与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题背景 | 第7-8页 |
| ·课题来源以及研究意义 | 第8-9页 |
| ·论文主要研究工作和论文安排 | 第9-11页 |
| 第二章 芯片调试技术背景 | 第11-27页 |
| ·调试技术发展现状 | 第11-17页 |
| ·软件调试 | 第11-12页 |
| ·Monitor 调试 | 第12页 |
| ·硬件调试 | 第12-17页 |
| ·调试对象 | 第17-19页 |
| ·DW8051 的特点 | 第17-18页 |
| ·DW8051 的架构 | 第18-19页 |
| ·JTAG 规范 | 第19-26页 |
| ·边界扫描技术 | 第20-21页 |
| ·JTAG 基本结构 | 第21-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 基于 JTAG 的片上调试系统设计 | 第27-45页 |
| ·片上调试系统架构和功能 | 第27-28页 |
| ·芯片的 JTAG 改进 | 第28-37页 |
| ·JTAG 的架构的改进 | 第28-29页 |
| ·IR、DR 改进 | 第29-31页 |
| ·模式与时钟选择 | 第31-32页 |
| ·RAM 寄存器访问 | 第32-33页 |
| ·Embeded ICE 模块 | 第33-37页 |
| ·DW8051 调试功能的实现 | 第37-44页 |
| ·断点与停止（break_RQ、stop） | 第38-40页 |
| ·全速运行（run） | 第40-41页 |
| ·单步（step） | 第41-42页 |
| ·单步（step_over） | 第42-43页 |
| ·单步（step_out） | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 片上调试器的仿真分析 | 第45-53页 |
| ·功能仿真设计流程 | 第45页 |
| ·测试平台 | 第45-46页 |
| ·仿真结果及分析 | 第46-52页 |
| ·FPGA 综合报告 | 第52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结 | 第53-55页 |
| ·工作总结 | 第53-54页 |
| ·工作展望 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
