智能功率模块测试技术若干关键问题研究
| 第一章 绪论 | 第1-17页 |
| ·电力电子器件的发展概况 | 第12-13页 |
| ·变频器技术简介 | 第13-14页 |
| ·PWM技术简介 | 第14页 |
| ·可测试性技术 | 第14页 |
| ·IPM测试技术现状 | 第14-15页 |
| ·课题来源及意义 | 第15-16页 |
| ·主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 IPM控制信号原理及分析方法 | 第17-26页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·IPM内部原理 | 第17-19页 |
| ·SPWM波概念及中心对准双极型 SPWM波算法 | 第19-22页 |
| ·SPWM波概念 | 第19页 |
| ·单极式 SPWM与双极式 SPWM | 第19-21页 |
| ·SPWM波形成的方法 | 第21页 |
| ·中心对准双极型 SPWM波算法 | 第21-22页 |
| ·通用变频器的控制方式分类 | 第22-23页 |
| ·频谱分析方法 | 第23-24页 |
| ·谐波 | 第23-24页 |
| ·谐波分析 | 第24页 |
| ·小结 | 第24-26页 |
| 第三章 信号源研究 | 第26-46页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·三相脉宽数据产生及数据规律 | 第26-28页 |
| ·产生文件格式 | 第26页 |
| ·三相脉宽数据规律性 | 第26-28页 |
| ·FPGA产生 SPWM波 | 第28-40页 |
| ·设计流程 | 第28-29页 |
| ·VHDL源程序 | 第29-34页 |
| ·芯片选择原则(RAM容量计算) | 第34页 |
| ·仿真波形图 | 第34-37页 |
| ·实测波形 | 第37-40页 |
| ·分析频谱 | 第40-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第四章 测试系统研究 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·系统测试参数 | 第46页 |
| ·系统组成及原理 | 第46-51页 |
| ·GPIB总线简介 | 第46-47页 |
| ·系统组成及原理 | 第47-49页 |
| ·高速数据采集(开关特性测试) | 第49-51页 |
| ·各测试参数测试原理图 | 第51-54页 |
| ·各测试参数的激励信号设计 | 第54-56页 |
| ·测试流程设计原则 | 第56页 |
| ·系统软件 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 IPM的可测试性设计 | 第58-64页 |
| ·可测试性技术介绍 | 第58页 |
| ·IPM可测试性设计思想 | 第58页 |
| ·可测试性设计原理及方法 | 第58-62页 |
| ·预处理电路 | 第59页 |
| ·电压电流变化趋势检测 | 第59-61页 |
| ·利用状态机实现故障判断处理 | 第61-62页 |
| ·小结 | 第62-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·工作总结 | 第64页 |
| ·展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 硕士研究生期间发表论文 | 第70页 |
