半导体激光器噪声测试系统的研究
| 第一章 前言 | 第1-10页 |
| 第二章 半导体激光器噪声特性 | 第10-23页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·半导体激光器的光噪声 | 第10-15页 |
| ·光强度噪声 | 第10-12页 |
| ·光相位噪声 | 第12-15页 |
| ·半导体激光器电噪声 | 第15-22页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·电噪声的种类 | 第15-21页 |
| ·电噪声对激光器可靠性估计 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 第三章 半导体激光器噪声测量方法 | 第23-30页 |
| ·直接测量法 | 第23-24页 |
| ·互谱测量法 | 第24-26页 |
| ·多通道测量法 | 第26-27页 |
| ·干涉测量法 | 第27-28页 |
| ·基于 PC 机数字测量法 | 第28-29页 |
| ·小结 | 第29-30页 |
| 第四章 半导体激光器噪声测试系统硬件部分 | 第30-42页 |
| ·半导体激光器噪声测试系统组成框图 | 第30页 |
| ·虚拟仪器 | 第30-34页 |
| ·虚拟仪器的基本概念 | 第30-31页 |
| ·虚拟仪器的特点 | 第31页 |
| ·虚拟仪器的组成 | 第31-34页 |
| ·微机数据采集系统概述 | 第34-35页 |
| ·低噪声前置放大器 | 第35页 |
| ·数据采集电路 | 第35-39页 |
| ·测试系统中的抗干扰措施 | 第39-41页 |
| ·驱动电源的选择 | 第39页 |
| ·空间电磁场干扰的抑制 | 第39-40页 |
| ·接地技术 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 第五章 半导体激光器噪声测试系统软件部分 | 第42-63页 |
| ·图形化编程语言 LabVIEW | 第43-44页 |
| ·LabVIEW 概述 | 第43-44页 |
| ·LabVIEW 的开发环境 | 第44页 |
| ·频谱分析仪原理 | 第44-53页 |
| ·离散傅氏变换和快速傅氏变换 | 第44-46页 |
| ·取样波形 | 第46页 |
| ·取样定理 | 第46-47页 |
| ·调节测量带宽 | 第47-48页 |
| ·泄漏 | 第48-49页 |
| ·窗口函数 | 第49-53页 |
| ·随机噪声的统计性质 | 第53-54页 |
| ·功率谱密度 | 第53-54页 |
| ·平均值、方差和标准偏差 | 第54页 |
| ·本底噪声 | 第54-58页 |
| ·平均 | 第55-56页 |
| ·线性加权 | 第56页 |
| ·指数加权 | 第56-57页 |
| ·FFT 分析仪中的平均 | 第57-58页 |
| ·虚拟 FFT 分析仪 | 第58-60页 |
| ·数据分析与器件筛选 | 第60-62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 中文摘要 | 第68-71页 |
| 英文摘要 | 第71-75页 |
| 作者及导师简介 | 第75页 |
