纳米磁性薄膜中磁畴的磁力显微镜研究
| 第一章 前言 | 第1-16页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·磁畴结构现有研究方法及存在的问题 | 第9-14页 |
| ·磁畴现有观察技术 | 第9-11页 |
| ·传统磁畴观察技术存在的问题 | 第11-12页 |
| ·MFM 研究进展和有待解决的问题 | 第12-14页 |
| ·本论文的工作 | 第14-16页 |
| 第二章 磁畴及其检测原理 | 第16-29页 |
| ·磁畴的形成机理 | 第16-22页 |
| ·铁磁体的性质 | 第16-19页 |
| ·磁畴的性质 | 第19-20页 |
| ·磁畴壁的种类 | 第20-22页 |
| ·磁畴的扫描力显微镜检测技术 | 第22-29页 |
| ·扫描力显微镜的原理 | 第23-26页 |
| ·磁力显微镜的磁畴成像 | 第26-29页 |
| 第三章 实验仪器 | 第29-33页 |
| ·仪器简介 | 第29页 |
| ·控制系统和系统软件 | 第29-30页 |
| ·磁性针尖 | 第30-31页 |
| ·仪器的相关说明 | 第31-33页 |
| 第四章 实验过程的影响因素和解决方案 | 第33-55页 |
| ·针尖磁化状态的影响 | 第33-36页 |
| ·对成像质量的影响 | 第34页 |
| ·形貌像中的磁信号干扰 | 第34-36页 |
| ·Q 曲线和共振点的选择 | 第36-38页 |
| ·针尖-样品间距的影响 | 第38-40页 |
| ·针尖杂散场对磁畴结构的影响 | 第40-42页 |
| ·仪器参数的调节 | 第42-45页 |
| ·不同参数针尖成像质量的对比 | 第45-47页 |
| ·真空实验 | 第47-48页 |
| ·磁力像中形貌图谱干扰的研究 | 第48-55页 |
| ·实验现象 | 第49页 |
| ·抬举距离和扫描方向的影响 | 第49-50页 |
| ·非磁性针尖的对比结果 | 第50-51页 |
| ·空气振动的影响 | 第51-54页 |
| ·结论 | 第54-55页 |
| 第五章 软磁薄膜的 MFM 研究 | 第55-66页 |
| ·TbFe 薄膜的磁力显微镜研究 | 第55-61页 |
| ·薄膜厚度对磁畴结构的影响 | 第55-57页 |
| ·倾斜溅射工艺的影响 | 第57-61页 |
| ·磁性薄膜单元磁结构的磁力显微镜研究 | 第61-66页 |
| ·样品的制备 | 第62页 |
| ·单元尺寸对磁畴结构的影响 | 第62-64页 |
| ·结果分析 | 第64-66页 |
| 第六章 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 附录一 磁力显微镜专用磁性探针磁化器 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
