| 第一章 绪论 | 第1-19页 |
| ·可测试性技术的产生和发展 | 第12-14页 |
| ·可测试性技术的产生 | 第12页 |
| ·可测试性技术的发展 | 第12-14页 |
| ·电路测试及故障诊断技术 | 第14-16页 |
| ·数字电路测试及故障诊断发展概况 | 第14-15页 |
| ·模拟电路测试及故障诊断发展概况 | 第15-16页 |
| ·数模混合电路测试及故障诊断现状 | 第16页 |
| ·离散事件系统理论 | 第16-17页 |
| ·离散事件 | 第16-17页 |
| ·离散事件动态系统 | 第17页 |
| ·本课题的来源及研究意义 | 第17-19页 |
| 第二章 基于DES理论的数模混合电路可测性分析 | 第19-28页 |
| ·运用DES理论进行电路可测试性分析 | 第19-22页 |
| ·数模混合电路的DES模型 | 第19-20页 |
| ·电路的可测试性 | 第20-21页 |
| ·电路的最小测试集 | 第21-22页 |
| ·电路的故障隔离率 | 第22页 |
| ·DES理论在电路测试中的应用 | 第22-28页 |
| ·数字电路 | 第22-24页 |
| ·模拟电路 | 第24-27页 |
| ·数模混合电路 | 第27-28页 |
| 第三章 用混合优化策略求取最小测试集 | 第28-49页 |
| ·用移走法求取最小测试集 | 第28-29页 |
| ·用混合优化策略求取最小测试集 | 第29-43页 |
| ·模拟退火算法 | 第29-32页 |
| ·遗传算法 | 第32-38页 |
| ·混合优化策略 | 第38-41页 |
| ·用混合优化策略求取最小测试集 | 第41-43页 |
| ·算法软件实现 | 第43-49页 |
| 第四章 基于EDA的故障仿真 | 第49-62页 |
| ·Multisim2001软件 | 第49-54页 |
| ·Multisim2001简介 | 第49-50页 |
| ·Multisim2001的主要功能和特点 | 第50-52页 |
| ·Multisim2001使用的元(器)件和虚拟仿真仪器 | 第52-54页 |
| ·示例电路 | 第54-55页 |
| ·电路故障的注入 | 第55-57页 |
| ·故障仿真结果 | 第57-62页 |
| 第五章 总结与展望 | 第62-65页 |
| ·对本文的总结 | 第62-63页 |
| ·对可测试性技术的展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第68页 |