非致冷红外焦平面读出电路噪声分析

第一章 引言	第1-10页
第二章 红外焦平面阵列技术	第10-25页
·红外焦平面阵列技术的发展	第10-12页
·热释电探测器的工作原理	第12-15页
·热释电探测器的噪声	第15-17页
·非致冷红外焦平面读出电路	第17-22页
·读出电路的分类	第22-25页
第三章 噪声的特性	第25-34页
·噪声的定义	第25页
·噪声的统计特性	第25-32页
·噪声的概率密度	第25-27页
·噪声的平均值和有效值	第27-28页
·噪声的功率谱密度	第28-30页
·噪声的相关函数	第30-32页
·噪声源的叠加	第32页
·噪声系数和等效输入噪声	第32-34页
第四章 非致冷红外读出电路噪声分析与仿真	第34-53页
·SFD型读出电路的噪声分析	第34-47页
·MOS管的固有噪声	第35-37页
·KTC噪声	第37-41页
·固定图形噪声	第41-47页
·SFD型读出电路的噪声仿真	第47-53页
第五章 非致冷红外读出电路降噪方法研究	第53-60页
·相关双采样的原理	第53-54页
·SFD型读出电路的双采样电路及仿真	第54-56页
·DI型读出电路的双采样电路及仿真	第56-59页
·SFD型双采样读出电路的版图	第59-60页
第六章 非致冷红外读出电路噪声分析的实验验证	第60-65页
·非致冷读出电路噪声测试方案	第60-61页
·待测电路和测试结果	第61-65页
第七章 总结	第65-66页
参考文献	第66-67页
致 谢	第67页