高压二极管的反向恢复时间测试系统
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目次 | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·论文研究的背景和现状 | 第10-11页 |
| ·论文研究的目的和内容 | 第11-13页 |
| ·论文研究的目的 | 第11-12页 |
| ·课题研究的内容 | 第12-13页 |
| ·课题研究的难点 | 第13-15页 |
| 第2章 测试头系统分析 | 第15-24页 |
| ·解决方案分析和比较 | 第15-16页 |
| ·测试头系统总体结构 | 第16-20页 |
| ·T_(RR)测试波形的获取原理 | 第20-22页 |
| ·T_(RR)脉冲截取转换原理 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 测试头硬件设计 | 第24-45页 |
| ·T_(RR)测试波形获取电路设计 | 第24-33页 |
| ·正向恒流源电路 | 第24-26页 |
| ·反向稳压源电路 | 第26-29页 |
| ·反向电流调节 | 第29-30页 |
| ·正反向切换脉冲电路 | 第30-33页 |
| ·T_(RR)脉冲截取转换电路设计 | 第33-41页 |
| ·峰值检波及电压补偿电路 | 第33-35页 |
| ·T_(RR)脉冲截取电路设计 | 第35-38页 |
| ·T_(RR)脉冲转换电路设计 | 第38-41页 |
| ·信号上传和模块内部电源 | 第41-44页 |
| ·Dx到位信号设计 | 第41-43页 |
| ·T_(RR)、I_(RM)和I_F上传信号 | 第43页 |
| ·模块内部电源 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 上位机硬件设计 | 第45-56页 |
| ·上位机模块分析和总体结构 | 第45-46页 |
| ·测试系统的电源设计 | 第46-48页 |
| ·前面板各功能电路设计 | 第48-51页 |
| ·单片机处理器核心电路 | 第51-55页 |
| ·AD转换电路 | 第51-52页 |
| ·系统内部隔离电路 | 第52-53页 |
| ·单片机处理器电路 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 上位机软件设计 | 第56-67页 |
| ·WAVE6000简介 | 第56-57页 |
| ·软件总体框架 | 第57-59页 |
| ·程序模块介绍 | 第59-66页 |
| ·主程序模块分析 | 第59-62页 |
| ·T_(RR)测量程序模块 | 第62-64页 |
| ·I_F/I_R测量显示程序模块 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第6章 误差分析 | 第67-69页 |
| 第7章 总结与展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 附录1 测试头系统完整的电路原理图 | 第73-75页 |
| 附录2 上位机软件子程序模块 | 第75-81页 |
| 作者简介 | 第81页 |
