高压断路器回路电阻测试仪的研制
引言 | 第1-8页 |
1. 国内外高压开关检测的现状和本文的研究任务 | 第8-10页 |
2. 总体设计 | 第10-12页 |
2.1 硬件设计思想 | 第10-11页 |
2.1.1 中央处理器(CPU) | 第10页 |
2.1.2 模数转换(A/D) | 第10页 |
2.1.3 液晶显示器(LCD) | 第10-11页 |
2.1.4 电源模块 | 第11页 |
2.2 软件设计思想 | 第11-12页 |
2.2.1 汇编语言 | 第11页 |
2.2.2 高级语言 | 第11-12页 |
2.2.3 C语言和C51单片机高级语言 | 第12页 |
3. 理论依据 | 第12-13页 |
3.1 欧姆定律 | 第12-13页 |
4. 回路电阻测试仪的硬件和软件设计 | 第13-38页 |
4.1 总体设计 | 第13-14页 |
4.1.1 功能要求 | 第13页 |
4.1.2 系统结构 | 第13-14页 |
4.2 硬件设计 | 第14-28页 |
4.2.1 中央处理器CPU | 第14-15页 |
4.2.2 运算放大器 | 第15-16页 |
4.2.3 模数转化器 | 第16-21页 |
4.2.4 液晶显示器 | 第21-22页 |
4.2.5 串行接口及串行打印机 | 第22-24页 |
4.2.6 时钟芯片 | 第24-26页 |
4.2.7 电源模块 | 第26-27页 |
4.2.8 键盘输入 | 第27-28页 |
4.3 软件设计 | 第28-38页 |
4.3.1 主程序及流程 | 第28-29页 |
4.3.2 液晶显示模块 | 第29-34页 |
4.3.3 A/D采样模块 | 第34-35页 |
4.3.4 串口通讯及打印模块 | 第35-36页 |
4.3.5 键盘模块 | 第36-37页 |
4.3.6 时钟模块 | 第37-38页 |
5. 系统抗干扰设计 | 第38-42页 |
5.1 抗干扰分析 | 第38-39页 |
5.2 硬件抗干扰 | 第39-40页 |
5.3 软件抗干扰 | 第40-42页 |
6. 试验条件、过程和测试结果 | 第42-44页 |
6.1 试验条件 | 第42页 |
6.2 试验过程 | 第42-43页 |
6.3 试验结果和分析 | 第43-44页 |
7. 讨论与展望 | 第44-46页 |
参考文献 | 第46-48页 |
英文摘要 | 第48-49页 |
致谢 | 第49页 |