高压断路器回路电阻测试仪的研制
| 引言 | 第1-8页 |
| 1． 国内外高压开关检测的现状和本文的研究任务 | 第8-10页 |
| 2． 总体设计 | 第10-12页 |
| 2．1 硬件设计思想 | 第10-11页 |
| 2．1．1 中央处理器（CPU） | 第10页 |
| 2．1．2 模数转换（A／D） | 第10页 |
| 2．1．3 液晶显示器（LCD） | 第10-11页 |
| 2．1．4 电源模块 | 第11页 |
| 2．2 软件设计思想 | 第11-12页 |
| 2．2．1 汇编语言 | 第11页 |
| 2．2．2 高级语言 | 第11-12页 |
| 2．2．3 C语言和C51单片机高级语言 | 第12页 |
| 3． 理论依据 | 第12-13页 |
| 3．1 欧姆定律 | 第12-13页 |
| 4． 回路电阻测试仪的硬件和软件设计 | 第13-38页 |
| 4．1 总体设计 | 第13-14页 |
| 4．1．1 功能要求 | 第13页 |
| 4．1．2 系统结构 | 第13-14页 |
| 4．2 硬件设计 | 第14-28页 |
| 4．2．1 中央处理器CPU | 第14-15页 |
| 4．2．2 运算放大器 | 第15-16页 |
| 4．2．3 模数转化器 | 第16-21页 |
| 4．2．4 液晶显示器 | 第21-22页 |
| 4．2．5 串行接口及串行打印机 | 第22-24页 |
| 4．2．6 时钟芯片 | 第24-26页 |
| 4．2．7 电源模块 | 第26-27页 |
| 4．2．8 键盘输入 | 第27-28页 |
| 4．3 软件设计 | 第28-38页 |
| 4．3．1 主程序及流程 | 第28-29页 |
| 4．3．2 液晶显示模块 | 第29-34页 |
| 4．3．3 A／D采样模块 | 第34-35页 |
| 4．3．4 串口通讯及打印模块 | 第35-36页 |
| 4．3．5 键盘模块 | 第36-37页 |
| 4．3．6 时钟模块 | 第37-38页 |
| 5． 系统抗干扰设计 | 第38-42页 |
| 5．1 抗干扰分析 | 第38-39页 |
| 5．2 硬件抗干扰 | 第39-40页 |
| 5．3 软件抗干扰 | 第40-42页 |
| 6． 试验条件、过程和测试结果 | 第42-44页 |
| 6．1 试验条件 | 第42页 |
| 6．2 试验过程 | 第42-43页 |
| 6．3 试验结果和分析 | 第43-44页 |
| 7． 讨论与展望 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
| 英文摘要 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49页 |
