海杂波模拟材料介电特性研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·国内外介电参量测量的发展综述 | 第11-16页 |
| ·本文的研究内容以及创新之处 | 第16-17页 |
| ·测量样品的分析 | 第17-18页 |
| 第二章 X波段、Q波段矩形波导测量 | 第18-32页 |
| ·测试原理与处理方法的改进 | 第18-25页 |
| ·原本的测试原理 | 第18-19页 |
| ·原本的处理方法 | 第19-20页 |
| ·对处理方法的改进 | 第20-23页 |
| ·对以上测量原理及处理方法的分析 | 第23-25页 |
| ·新的测试原理的提出 | 第25-29页 |
| ·测量原理 | 第25-27页 |
| ·超越方程的处理方法 | 第27-28页 |
| ·该测量原理及处理方法的分析 | 第28-29页 |
| ·新的处理方法的提出 | 第29-32页 |
| ·数值计算简介 | 第29页 |
| ·处理方法 | 第29-32页 |
| 第三章 对以上测量系统的分析 | 第32-41页 |
| ·实验步骤 | 第32-34页 |
| ·数据测量 | 第32页 |
| ·数据处理 | 第32-34页 |
| ·测量中一些要注意的问题 | 第34-40页 |
| ·同轴波导转接头的处理 | 第34-35页 |
| ·对于测量样品长度的考虑 | 第35-36页 |
| ·α_ε和β_ε取值区间以及对结果的影响 | 第36-37页 |
| ·接短路片终端阻抗的考虑 | 第37页 |
| ·上下夹层样品的处理 | 第37-39页 |
| ·连续测量 | 第39-40页 |
| ·处理结果对比 | 第40-41页 |
| 第四章 X波段、Q波段圆柱谐振腔分析 | 第41-48页 |
| ·固定谐振腔腔长改变谐振频率法 | 第41-43页 |
| ·固定谐振频率改变谐振腔长法 | 第43-46页 |
| ·对以上两个测量方法的分析 | 第46-48页 |
| 第五章 W波段介电常数测量 | 第48-57页 |
| ·利用布儒斯特角计算介电常数 | 第48-52页 |
| ·测量原理 | 第48-49页 |
| ·一些测试技术 | 第49-50页 |
| ·对于实验设备的要求 | 第50-52页 |
| ·通过测量散射参数计算介电常数 | 第52-54页 |
| ·测量原理 | 第52-53页 |
| ·对测试系统的要求 | 第53-54页 |
| ·3mm测量系统简介 | 第54-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·工作总结 | 第57页 |
| ·后续工作 | 第57-59页 |
| 附录 | 第59-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
