有机多晶薄膜的生长机理研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-24页 |
| ·有机半导体薄膜的概述 | 第10页 |
| ·有机半导体薄膜的主要应用及进展 | 第10-13页 |
| ·在有机发光二极管中的应用 | 第10-11页 |
| ·在有机薄膜太阳能电池中的应用 | 第11-12页 |
| ·在有机薄膜晶体管中的应用 | 第12-13页 |
| ·有机薄膜晶体管的基本知识 | 第13-18页 |
| ·有机薄膜晶体管的基本原理 | 第14-15页 |
| ·有机薄膜晶体管的特性参数 | 第15-17页 |
| ·有机薄膜晶体管的现状 | 第17-18页 |
| ·有机薄膜生长机理的概述 | 第18-22页 |
| ·有机半导体薄膜的制备方法 | 第18-19页 |
| ·有机半导体薄膜的成核和生长 | 第19-22页 |
| ·本论文的研究意义和主要工作 | 第22-24页 |
| ·并五苯薄膜的生长机理研究 | 第22-23页 |
| ·新合成的 N 型半导体薄膜的生长机理研究 | 第23页 |
| ·双极性器件中 P/N 有机半导体薄膜形貌研究 | 第23-24页 |
| 第二章 实验方法 | 第24-30页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·原子力显微镜（AFM） | 第24-27页 |
| ·原子力显微镜的介绍 | 第24-25页 |
| ·原子力显微镜的工作原理及其结构 | 第25-26页 |
| ·原子力显微镜的操作模式 | 第26-27页 |
| ·椭偏仪法测量膜厚 | 第27-28页 |
| ·4200 半导体分析仪 | 第28-30页 |
| 第三章 并五苯薄膜的生长机理研究 | 第30-43页 |
| ·引言 | 第30-31页 |
| ·并五苯薄膜的制备与表征 | 第31-32页 |
| ·实验药品与仪器 | 第31页 |
| ·实验过程 | 第31-32页 |
| ·实验结果与结论 | 第32-41页 |
| ·并五苯薄膜的 AFM 形貌测试 | 第32-34页 |
| ·工艺参数的影响 | 第34-36页 |
| ·并五苯薄膜的粗化过程及机理分析 | 第36-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 N 型新材料的生长机理研究 | 第43-53页 |
| ·引言 | 第43-44页 |
| ·新材料薄膜的制备与表征 | 第44-45页 |
| ·实验药品与仪器 | 第44-45页 |
| ·实验结果与分析 | 第45-53页 |
| ·薄膜的 AFM 形貌分析 | 第45-46页 |
| ·衬底温度对形貌的影响 | 第46页 |
| ·薄膜的厚度对表面粗糙度的变化及分析 | 第46-49页 |
| ·同分异构体的形貌与器件性能对比 | 第49-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第五章 有机薄膜异质结形貌的研究 | 第53-59页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·有机薄膜异质结的制备与表征 | 第53-54页 |
| ·实验结果与分析 | 第54-58页 |
| ·沉积顺序对薄膜形貌的影响 | 第54页 |
| ·表面粗糙度的变化 | 第54-55页 |
| ·双极性器件性能表征 | 第55-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读学位期间本人出版或公开发表的论著、论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
