内径尺寸光电位移检测系统研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| §1.1 引言 | 第8-9页 |
| §1.2 课题来源、研究目的及意义 | 第9-10页 |
| §1.2.1 课题来源 | 第9页 |
| §1.2.2 研究目的及意义 | 第9-10页 |
| §1.3 光电尺寸检测技术研究现状 | 第10-12页 |
| §1.4 本文主要研究内容、技术指标与研究方法 | 第12-13页 |
| §1.4.1 主要研究内容 | 第12页 |
| §1.4.2 技术指标 | 第12页 |
| §1.4.3 研究方法 | 第12-13页 |
| 第二章 系统的组成与总体设计方案 | 第13-16页 |
| §2.1 总体设计思想 | 第13页 |
| §2.2 系统的组成、总体结构布局与检测原理 | 第13-16页 |
| §2.2.1 系统的组成及功用 | 第13-14页 |
| §2.2.2 系统总体结构布局 | 第14-15页 |
| §2.2.3 系统的检测过程 | 第15-16页 |
| 第三章 关键技术与检测系统 | 第16-31页 |
| §3.1 激光探头内径测量系统 | 第16-28页 |
| §3.1.1 激光光三角位移检测原理的理论分析 | 第16-20页 |
| §3.1.2 激光探头内径测量原理理论分析 | 第20-23页 |
| §3.1.3 激光探头内径测量系统设计 | 第23-28页 |
| §3.2 主体精密机械系统 | 第28-31页 |
| 第四章 计算机控制系统设计 | 第31-43页 |
| §4.1 计算机控制系统硬件设计 | 第31-32页 |
| §4.2 硬件系统的抗干扰设计 | 第32-35页 |
| §4.2.1 供电系统的干扰及抗干扰措施 | 第33页 |
| §4.2.2 过程通道干扰及抗干扰措施 | 第33-34页 |
| §4.2.3 印制电路板的抗干扰设计 | 第34页 |
| §4.2.4 其它硬件抗干扰措施设计 | 第34-35页 |
| §4.3 控制系统的软件设计 | 第35-43页 |
| §4.3.1 虚拟仪器技术概述 | 第35页 |
| §4.3.2 虚拟仪器系统设计 | 第35-37页 |
| §4.3.3 测量软件编程 | 第37-38页 |
| §4.3.4 功能软件模块设计 | 第38-41页 |
| §4.3.5 内径尺寸测量过程 | 第41-43页 |
| 第五章 误差分析 | 第43-49页 |
| §5.1 检测系统误差来源及分析 | 第43-44页 |
| §5.2 机械系统误差来源及分析 | 第44-49页 |
| §5.2.1 导轨误差分析 | 第44-49页 |
| 第六章 实验结果与分析 | 第49-52页 |
| §6.1 实验条件 | 第49页 |
| §6.2 实验方法与检测结果及检测结果分析 | 第49-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
