| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题的来源及研究的目的和意义 | 第10页 |
| ·电磁检测技术国内外研究的现状 | 第10-15页 |
| ·漏磁检测国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·金属磁记忆检测国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·本论文研究的主要内容 | 第15-16页 |
| 第2章 漏磁检测原理 | 第16-22页 |
| ·漏磁检测的原理 | 第16页 |
| ·漏磁场理论计算和分析 | 第16-20页 |
| ·漏磁场影响的因素 | 第20-21页 |
| ·磁化场对漏磁场的影响 | 第20-21页 |
| ·缺陷形状和位置对漏磁场的影响 | 第21页 |
| ·工件材质及环境对漏磁场的影响 | 第21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 第3章 漏磁及其传感模块设计 | 第22-33页 |
| ·励磁部分的设计 | 第22-26页 |
| ·磁化方式的种类 | 第22-23页 |
| ·磁化磁场强度的选择 | 第23-24页 |
| ·励磁装置的设计 | 第24-25页 |
| ·励磁装置的结构 | 第25页 |
| ·二维磁化场有限元分析 | 第25-26页 |
| ·传感器系统的研制 | 第26-30页 |
| ·传感器的选择 | 第26-28页 |
| ·传感器的技术参数 | 第28-30页 |
| ·阵列式传感器的设计 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-33页 |
| 第4章 阵列式漏磁检测模块的设计 | 第33-46页 |
| ·低噪声放大器 | 第33-35页 |
| ·抗混叠滤波器 | 第35-36页 |
| ·数据采集系统的设计 | 第36-41页 |
| ·C8051F020 单片机 | 第36-37页 |
| ·C8051F020 单片机的电源 | 第37-38页 |
| ·C8051F020 单片机电压基准 | 第38页 |
| ·C8051F020 单片机的晶振 | 第38-39页 |
| ·C8051F020 单片机的复位电路 | 第39页 |
| ·C8051F020 单片机的12 位ADC | 第39-41页 |
| ·液晶显示模块 | 第41-42页 |
| ·液晶模块的特点和结构 | 第41-42页 |
| ·液晶模块的控制方式 | 第42页 |
| ·C8051F020 与 PC 机的通讯 | 第42-43页 |
| ·数据的打印 | 第43-44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 第5章 阵列式漏磁检测软件系统的设计 | 第46-55页 |
| ·MCU-51 集成开发环境 Keil u Vision2 | 第46页 |
| ·主程序设计 | 第46-47页 |
| ·功能按键处理程序 | 第47-49页 |
| ·采样方式 | 第49-50页 |
| ·模数转换程序 | 第50-51页 |
| ·显示程序 | 第51-53页 |
| ·转换算法 | 第53-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第6章 漏磁检测仪的测验 | 第55-60页 |
| ·测试条件 | 第55-56页 |
| ·试验数据采集 | 第56-59页 |
| ·结果分析 | 第59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 第7章 结论与展望 | 第60-62页 |
| ·结论 | 第60-61页 |
| ·展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 附录 | 第66-79页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第79页 |